[发明专利]一种存储设备的命令序列测试方法和装置以及设备有效
申请号: | 202010022445.5 | 申请日: | 2020-01-09 |
公开(公告)号: | CN111258826B | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
发明(设计)人: | 李虎;梁永权 | 申请(专利权)人: | 深圳市德明利技术股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F11/26 |
代理公司: | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人: | 何兵;饶盛添 |
地址: | 518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 存储 设备 命令 序列 测试 方法 装置 以及 | ||
本发明公开了一种存储设备的命令序列测试方法和装置以及设备。其中,所述方法包括:在对存储设备的命令序列进行测试的测试过程中,抓取该测试过程中的存储设备总线上的物理读写命令序列,和在该对存储设备的命令序列进行测试的测试过程出现异常时,根据该抓取的物理读写命令序列,对该存储设备的命令序列进行模拟测试得到模拟测试结果,以及根据该模拟测试结果,恢复关联该出现的异常测试过程的异常现场。通过上述方式,能够实现在对存储设备的命令序列进行测试的测试过程出现异常时,能够恢复异常现场。
技术领域
本发明涉及存储技术领域,尤其涉及一种存储设备的命令序列测试方法和装置以及设备。
背景技术
现有的存储设备的命令序列测试方案,一般在对存储设备的命令序列进行测试时,每次测试的命令序列都是随机生成的,造成每次对存储设备的命令序列进行测试的测试结果都不一样,导致在对存储设备的命令序列进行测试的测试过程出现异常时,无法恢复异常现场。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提出一种存储设备的命令序列测试方法和装置以及设备,能够实现在对存储设备的命令序列进行测试的测试过程出现异常时,能够恢复异常现场。
根据本发明的一个方面,提供一种存储设备的命令序列测试方法,包括:在对存储设备的命令序列进行测试的测试过程中,抓取所述测试过程中的存储设备总线上的物理读写命令序列;在所述对存储设备的命令序列进行测试的测试过程出现异常时,根据所述抓取的物理读写命令序列,对所述存储设备的命令序列进行模拟测试得到模拟测试结果;根据所述模拟测试结果,恢复关联所述出现的异常测试过程的异常现场。
其中,所述在对存储设备的命令序列进行测试的测试过程中,抓取所述测试过程中的存储设备总线上的物理读写命令序列,包括:在对存储设备的命令序列进行测试的测试过程中,采用超级软件总线协议分析器方式,抓取所述测试过程中的存储设备总线上的物理读写命令序列。
其中,所述在所述对存储设备的命令序列进行测试的测试过程出现异常时,根据所述抓取的物理读写命令序列,对所述存储设备的命令序列进行模拟测试得到模拟测试结果,包括:在所述对存储设备的命令序列进行测试的测试过程出现异常时,按照超级软件总线协议分析器的存储格式分析所述抓取的物理读写命令序列的命令类型、操作地址、操作数据长度信息得到所述物理读写命令序列的分析信息,根据所述物理读写命令序列的分析信息,对所述存储设备的命令序列进行模拟测试得到模拟测试结果。
其中,在所述根据所述模拟测试结果,恢复关联所述出现的异常测试过程的异常现场之后,还包括:对所述恢复的异常现场进行修复,修复得到对所述存储设备的命令序列进行测试的正常测试过程。
根据本发明的另一个方面,提供一种存储设备的命令序列测试装置,包括:抓取模块、模拟测试模块和恢复模块;所述抓取模块,用于在对存储设备的命令序列进行测试的测试过程中,抓取所述测试过程中的存储设备总线上的物理读写命令序列;所述模拟测试模块,用于在所述对存储设备的命令序列进行测试的测试过程出现异常时,根据所述抓取的物理读写命令序列,对所述存储设备的命令序列进行模拟测试得到模拟测试结果;所述恢复模块,用于根据所述模拟测试结果,恢复关联所述出现的异常测试过程的异常现场。
其中,所述抓取模块,具体用于:在对存储设备的命令序列进行测试的测试过程中,采用超级软件总线协议分析器方式,抓取所述测试过程中的存储设备总线上的物理读写命令序列。
其中,所述模拟测试模块,具体用于:在所述对存储设备的命令序列进行测试的测试过程出现异常时,按照超级软件总线协议分析器的存储格式分析所述抓取的物理读写命令序列的命令类型、操作地址、操作数据长度信息得到所述物理读写命令序列的分析信息,根据所述物理读写命令序列的分析信息,对所述存储设备的命令序列进行模拟测试得到模拟测试结果。
其中,所述存储设备的命令序列测试装置,还包括:修复模块;所述修复模块,用于对所述恢复的异常现场进行修复,修复得到对所述存储设备的命令序列进行测试的正常测试过程。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市德明利技术股份有限公司,未经深圳市德明利技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010022445.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。