[发明专利]一种存储控制器的设计方法在审

专利信息
申请号: 202010022667.7 申请日: 2020-01-09
公开(公告)号: CN112309484A 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 庞晨;冯伟;刘培龙;彭楠;杨东坪 申请(专利权)人: 成都华微电子科技有限公司
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42
代理公司: 北京众元弘策知识产权代理事务所(普通合伙) 11462 代理人: 宋磊
地址: 610041 四川省成都市高新区*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 存储 控制器 设计 方法
【权利要求书】:

1.一种存储控制器的设计方法,其特征在于,所述方法包括:

配置检纠错逻辑;

将待存储的数据分为数据位n和校验位k,

数据位和校验位的排列规则为:校验位排列在2k位,数据位按照顺序排放在校验位的空隙中;

将排列好的数据从1到n+k进行编号,并将得到的编号进行二进制转换;

当控制器准备进行写操作或编程操作时,检纠错逻辑将待写入的数据进行计算,得到所需的校验位。

2.根据权利要求1所述的设计方法,其特征在于:

将排列好的数据根据位置编号分成k个校验组,每组有一个校验位,根据奇校验或偶检验规则确定每个校验位的值。

3.根据权利要求1所述的设计方法,其特征在于:

将存储器的位宽进行拓宽设计,用于将校验位和数据位一同存入存储器中。

4.根据权利要求3所述的设计方法,其特征在于:

所述存储器中的数据被读出时,将校验位一同读出,读出后的混合数据仍按照上述排列规则进行整理,整理后计算得出新的校验位,并将新的校验位和读出的校验位进行异或操作,得到错误定位信息。

5.根据权利要求4所述的设计方法,其特征在于:

所述错误定位信息如果为0时,则存储器中的数据并未发生损坏,写入和读出的数据完全一样,无需纠错;

如果错误定位信息不为0,则证明错误定位信息所代表的编号位发生了翻转。

6.根据权利要求5所述的设计方法,其特征在于:

存储控制器将发生翻转的可能位取反纠错之后,验证纠错是否成功。

7.根据权利要求6所述的设计方法,其特征在于:

验证纠错是否成功的方法具体为:

将纠错后的数据位再次进行校验位计算,再次得到一个新的校验位,存储控制器将得到的新的校验位与读出的校验位进行比较,如果完全相同,则证明纠错成功,否则,则纠错失败。

8.根据权利要求7所述的设计方法,其特征在于:

出现1个数据位错误时,存储控制器具有检错、定位错误并纠正的能力;出现2个数据位错误时,存储控制器具有检错能力,判定该存储器存在极大风险,已无纠错必要。

9.根据权利要求7所述的设计方法,其特征在于:

出现1个校验位错误,而数据位没有错误,直接输出;

出现2个校验位错误,无法纠错。

10.根据权利要求1-7之一所述的设计方法,其特征在于:

利用单个数据位错误出现的条件产生回写使能,用于修改已经发生错误的电刷新存储器中的错误位;由于在读取后写入时发生电刷新而导致出现位翻转延迟或过早,进而导致出现上述错误。

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