[发明专利]一种高速高精桌面式小型近场测试仪在审

专利信息
申请号: 202010025229.6 申请日: 2020-01-10
公开(公告)号: CN111175583A 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 姜洋;袁新江;陈诚 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十四研究所
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G01B11/27;G01B7/02
代理公司: 北京律谱知识产权代理事务所(普通合伙) 11457 代理人: 黄云铎
地址: 210039 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 高速 桌面 小型 近场 测试仪
【说明书】:

发明属于天线测试技术领域,具体涉及一种高速高精桌面式小型近场测试仪,包括光学平台、二维十字扫描机构、测试探头、控制箱、两维高精度调整转台、天线安装支架、平行度检测仪、控制终端和终端调整机构,两维高精度转台和二维十字机构前后平行间隔设置在光学平台上,在两维高精度调整转台的后部设有天线安装支架,测试探头与天线安装支架相对设置,测试探头通过二维十字扫描机构能够上下、左右移动扫描,控制终端通过终端调整机构与光学平台活动连接,控制终端和控制箱之间、控制箱与二维十字扫描机构的驱动元件之间通过线路或无线信号连接,整个测试仪系统集成在光学平台上,实现了高精度、高速测试、重复定位精度高、噪音低。

技术领域

本发明涉及天线测试技术领域,具体涉及一种高速高精桌面式小型近场测试仪。

背景技术

随着航空航天技术的迅猛发展,对于机载、弹载、星载天线的性能要求越来越高,天线特性参数测量是天线设计的重要环节,天线特性参数测量有多种方法,目前主要的方法包括三大类:天线的远场测量、天线的紧缩场测量、天线的近场测量,其中,天线的近场测量主要分为:平面近场、柱面近场和球面近场。

影响天线平面近场测量精度的误差源较多,但影响最大的误差项来源于近场测试仪自身的精度,尤其对毫米波、钛赫兹天线的测量,提高近场测试仪的精度至关重要,同时由于相控阵技术的不断发展,需要测试分析的天线单元数目愈来愈多,测试效率也成为制约天线研制的重要问题,提高测试效率通用的方式为提高扫描速度,因此高速性能也成为近场测试仪研究关注的重点。

目前,国内外近场测试仪所采用的传动形式多为传统的“旋转电机+滚珠丝杠或齿轮齿条”形式,这种形式需要减速机、联轴器等中间传递环节,存在反向间隙、噪音大、结构复杂等缺点,兼之传动元件的精度受制造成本影响难以提高,使得系统无法满足高精度、高速度的需求。

另外,国内外小型近场测试仪以倒“T”型结构为主,近场测试仪与被测天线之间多为分别独立安装,近场测试仪与被测天线之间的平行度是重要的调整指标,但受限于测量调整设备,调试复杂,精度更难以保证。

发明内容

为了解决背景技术中问题,本发明公开一种高速高精桌面式小型近场测试仪,包括整合在同一平台的二维十字扫描机构和两维高精度调整转台,二维十字扫描机构由直线电机驱动且通过磁栅位移传感器定位,测试精度高、速度高、调试方便。

为实现上述发明目的,本发明采用下述技术方案:

一种高速高精桌面式小型近场测试仪,所述近场测试仪包括二维十字扫描机构和测试承载机构,测试承载机构、二维十字扫描机构前后平行间隔设置,测试承载机构包括两维高精度调整转台和设置在两维高精度调整转台的上部用于安装被测天线的天线安装支架,二维十字扫描机构包括水平设置的水平基座和竖直设置的垂向立柱,在水平基座上沿其长度方向设有水平导轨副,水平基座和垂向立柱之间通过L形转接板连接,转接板水平段的底部与水平导轨副滑块滑动连接,垂向立柱的后侧面与转接板的竖直段固定连接,在垂向立柱的左右侧面上沿其长度方向设有垂向导轨副,垂向导轨副包括垂向导轨和垂向滑块,在垂向滑块的前端安装有测试探头,测试探头与天线安装支架相对设置,在天线安装支架的一测设有平行度检测仪,平行度检测仪通过定位面安装的方式使镜与待测天线的轴线平行。

进一步的,所述近场测试仪还包括光学平台,光学平台包括水平设置的台面和台面底部四角垂直设置的支腿,两维高精度调整转台与二维十字扫描机构前后平行间隔设置在光学平台的台面上,二维十字扫描机构的水平基座平行设置在光学平台台面的上方,水平基座左右两端通过竖直设置的支撑柱与光学平台的台面固定连接。

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