[发明专利]用于在存储器系统中编码和解码数据的方法和装置

说明书

一种解码电路，包括Bose‑Chaudhuri‑Hocquenghem(BCH)解码器。BCH解码器包括用于基于BCH编码字来生成校正子的校正子级、对校正子执行Berlekamp‑Massey(BM)算法以生成错误位置多项式(ELP)系数的Berlekamp‑Massey级、使用快速傅立叶变换(FFT)对ELP系数执行Chien搜索以生成错误位和迭代信息的Chien级、以及被配置为基于迭代信息将错误位重新排序为按顺序的帧修复器级。BCH解码器使用重新排序的错误位解码BCH编码字。

技术领域

本发明构思的示例性实施例涉及用于在存储器系统中编码和解码数据的方法和装置。

背景技术

NAND快闪存储器是电可擦除可编程只读存储器(Electrically Erasable AndProgrammable Read Only Memory，EEPROM)的一个示例。通过使用其中多个存储器单元彼此串联的NAND单元组(cell unit)，NAND快闪存储器可以在小芯片区域中存储大量信息。

当在存储器设备处存储数据并且从存储器设备读取所存储的数据时，可能会出现错误。各种错误校正码可以用来检测和校正这样的错误。错误校正码可以包括Reed-Solomon(RS)码、Bose-Chaudhuri-Hocquenghem(BCH)码、低密度奇偶校验(Low DensityParity Check，LDPC)码等。

发明内容

根据本发明构思的示例性实施例，提供了一种包括Bose-Chaudhuri-Hocquenghem(BCH)解码器的解码电路。BCH解码器包括用于基于BCH编码字来生成校正子(syndrome)的校正子级(stage)、对校正子执行Berlekamp-Massey(BM)算法以生成错误位置多项式(Error Location Polynomial，ELP)系数的Berlekamp-Massey级、使用快速傅立叶变换(Fast Fourier Transform，FFT)对ELP系数执行Chien搜索以生成错误位和迭代信息的Chien级、以及被配置为基于迭代信息将错误位重新排序为按顺序的帧修复器级。BCH解码器使用重新排序的错误位解码BCH编码字。

根据本发明构思的示例性实施例，提供了一种对Bose-Chaudhuri-Hocquenghem(BCH)编码字进行解码的方法。该方法包括：基于BCH编码字来生成校正子；对校正子执行Berlekamp-Massey算法以生成错误位置多项式(ELP)系数；使用快速傅立叶变换(FFT)对ELP系数执行Chien搜索，以生成错误位和迭代信息；基于迭代信息将错误位重新排序为按顺序的；以及使用重新排序的错误位解码BCH编码字。

根据本发明构思的示例性实施例，提供了一种包括Bose-Chaudhuri-Hocquenghem(BCH)解码器的解码电路。BCH解码器包括：校正子级，用于基于BCH编码字来生成校正子；Berlekamp-Massey级，对校正子执行Berlekamp-Massey算法，以生成错误位置多项式(ELP)系数；第一快速傅立叶变换(FFT)级，对ELP系数迭代地执行第一FFT运算，以生成第一结果；第二FFT级，对第一结果迭代地执行第二FFT运算，以生成第二结果；以及逻辑电路，被配置为从第二结果生成错误位。BCH解码器使用错误位解码BCH编码字。

附图说明

通过参考附图详细描述本发明构思的示例性实施例，本发明构思将变得更加显而易见，其中：

图1示出了示出根据本发明构思的示例性实施例的存储器系统的示图；

图2A示出了根据本发明构思的示例性实施例的SBCH编码器的高级框图；

图2B示出了可以由SBCH编码器输出的编码数据；

图3示出了根据本发明构思的示例性实施例的SBCH解码器的高级框图；