[发明专利]芯片测试方法及装置

说明书

本发明提供了芯片测试方法及芯片测试装置，方法包括：根据芯片的测试序列生成数据表格；所述数据表格中包括：至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值；设置功能程序；所述功能程序，包括：执行测试项目的功能代码及读取所述数据表格的功能代码；还包括：由所述功能程序利用读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值；根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目。本发明能提高芯片测试的效率。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别涉及芯片测试方法及装置。

背景技术

随着科技的发展，手机成了我们生活中必不可少的工具。各种芯片是手机必不可少的组成部分。由于芯片制造的工艺复杂程度在不断增加，且不同厂家不同设备的生产都存在差异，很可能导致生产出的芯片不合格。因此芯片从制造到出货前需要对其进行测试，保证出货质量。

如今，通过使用测试软件来对芯片进行测试。在测试前通过在软件中编程设置需要测试的指标和参数范围及各项指标测试的顺序。

然而，每次芯片相关指标测试的要求并不是固定的，需要经常进行更改，然而调整测试指标或者参数范围需要重新在原有的测试软件中进行编程，非常不方便。因此，需要一种更便捷的方式来进行芯片测试。

发明内容

本发明实施例提供了芯片测试方法及芯片测试装置，能够更便捷地进行芯片测试。

第一方面，本发明实施例中提供了芯片测试方法，包括：

根据芯片的测试序列生成数据表格；所述数据表格中包括：至少一个测试项目对应的至少一个测试参数及其取值；

设置功能程序；所述功能程序，包括：执行测试项目的功能代码及读取所述数据表格的功能代码；

还包括：

由所述功能程序利用读取所述数据表格的功能代码从所述数据表格中读取所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值；

根据读取的所述至少一个测试项目对应的测试参数及其取值，由所述功能程序的功能代码执行测试项目。

优选地，

所述生成数据表格包括：

生成EXCEL表格；

所述EXCEL表格中的每一行均对应所述至少一个测试项目中的一个测试项目；且同一行中在不同列的位置对应同一测试项目的不同测试参数及其取值；

根据所述芯片的测试全流程的步骤的顺序，确定不同测试项目在所述EXCEL表格中所处的行的顺序。

优选地，

所述测试参数中包括：启用标志位；用于表示该测试项目是否需要被所述功能程序执行；

则所述由所述功能程序的功能代码执行测试项目之前，进一步包括：所述功能程序判断当前读取的启用标志位的标识是否为确定标识，如果是，则继续执行所述由所述功能程序的功能代码执行测试项目，否则，所述功能程序不执行该启用标志位对应的测试项目，结束当前流程；

优选地，

所述测试参数包括：数据名称，用于表述所述测试项目的名称；

优选地，

所述测试参数包括：最大值，用于表示所述测试项目测试结果的最大允许值；

优选地，

所述测试参数包括：最小值，用于表示所述测试项目测试结果的最小允许值；

优选地，