[发明专利]电源测试装置

权利要求书

1.一种电源测试装置，其特征在于，包括：

控制芯片，所述控制芯片的型号为UCC28700，所述控制芯片的GND引脚接地；

启动电路，所述启动电路与所述控制芯片的VDD引脚电连接；

电流采样电路，所述电流采样电路与所述控制芯片的DRV引脚及CS引脚电连接；

电压采样电路，所述电压采样电路与所述控制芯片的VS引脚电连接；

保险丝F1，所述保险丝F1的一端与信号输入端电连接，所述保险丝F1的另一端与所述电压采样电路电连接；其中

所述电压采样电路包括：

变压器T3，所述变压器T3为三绕组变压器，所述保险丝F1的另一端与所述变压器T3的初级绕组电连接；

电阻R59，所述电阻R59的一端与所述变压器T3的辅助绕组电连接，所述电阻R59的另一端与所述控制芯片的VS引脚电连接；

电阻R47，所述电阻R47的一端与所述电阻R59的另一端电连接，所述电阻R47的另一端接地。

2.根据权利要求1所述的电源测试装置，其特征在于，所述启动电路包括电阻R66、电阻R44、电阻R46、电阻R48、电阻R50、电阻R3及电容C51；其中

所述电阻R66、所述电阻R44、所述电阻R46、所述电阻R48、所述电阻R50及所述电阻R3依次串联，所述电阻R66的一端与所述保险丝F1的另一端电连接，所述电阻R3的一端与所述控制芯片的VDD引脚电连接；

所述电容C51的一端与所述电阻R3的一端电连接，所述电容C51的另一端接地。

3.根据权利要求2所述的电源测试装置，其特征在于，所述电流采样电路包括：

开关管Q2，所述开关管Q2的栅极与所述控制芯片的DRV引脚电连接，所述开关管Q2的漏极与所述变压器T3的初级绕组电连接；

采样单元，所述采样单元的一端与所述开关管Q2的源极电连接，所述采样单元的另一端接地。

4.根据权利要求3所述的电源测试装置，其特征在于，所述电流采样电路还包括滤波单元，所述滤波单元连接所述采样单元的一端与所述控制芯片的CS引脚。

5.根据权利要求4所述的电源测试装置，其特征在于，所述采样单元包括：

电阻R42，所述电阻R42的一端与所述开关管Q2的源极电连接，所述电阻R42的另一端接地；

电阻R91，所述电阻R91的一端与所述开关管Q2的源极电连接，所述电阻R91的另一端接地。

6.根据权利要求5所述的电源测试装置，其特征在于，所述滤波单元包括：

电阻R37，所述电阻R37的一端与所述电阻R42的一端及所述电阻R91的一端电连接，所述电阻R37的另一端与所述控制芯片的CS引脚电连接；

电容C40，所述电容C40的一端与所述电阻R37的另一端电连接，所述电容C40的另一端接地。

7.根据权利要求6所述的电源测试装置，其特征在于，所述变压器T3的输出绕组电连接输出电路。

8.根据权利要求7所述的电源测试装置，其特征在于，所述输出电路包括：

二极管D7，所述二极管D7的正极与所述变压器T3的输出绕组电连接；

电容C42、电容C4、电容C45及电阻R40，所述电容C42、所述电容C4、所述电容C45及所述电阻R40的一端分别与所述二极管D7的负极电连接，所述电容C42、所述电容C4、所述电容C45及所述电阻R40的另一端分别接地；

电容C48及电阻R41，所述电容C48的一端与所述二极管D7的正极电连接，所述电阻R41的一端与所述电容C48的另一端电连接，所述电阻R41的另一端与所述二极管D7的负极电连接。

9.根据权利要求8所述的电源测试装置，其特征在于，还包括吸收电路，所述吸收电路连接所述保险丝F1及所述变压器T3的初级绕组。

10.根据权利要求9所述的电源测试装置，其特征在于，所述吸收电路包括：

稳压二极管D1，所述稳压二极管D1的正极与所述保险丝F1电连接；

电阻R2，所述电阻R2的一端与所述稳压二极管D1的负极电连接；

二极管D10，所述二极管D10的负极与所述电阻R2的另一端电连接，所述二极管D10的正极与所述变压器T3的初级绕组电连接；

电容C50，所述电容C50的一端与所述稳压二极管D1的正极电连接，所述电容C50的另一端与所述稳压二极管D1的负极电连接。