[发明专利]片上集成AlGaN脉冲激光器制备方法及其器件在审

专利信息
申请号: 202010027346.6 申请日: 2020-01-10
公开(公告)号: CN111200235A 公开(公告)日: 2020-05-26
发明(设计)人: 康俊杰;袁冶;王新强;王维昀;王后锦;李永德 申请(专利权)人: 松山湖材料实验室
主分类号: H01S5/024 分类号: H01S5/024;H01S5/22;H01S5/343
代理公司: 深圳市千纳专利代理有限公司 44218 代理人: 刘晓敏
地址: 523000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 集成 algan 脉冲 激光器 制备 方法 及其 器件
【说明书】:

发明公开了一种片上集成AlGaN脉冲激光器制备方法及其器件,发明提供的方法步骤简洁,易于实现,生长具有AlGaN波导层和AlGaN载流子限制层的外延结构,并结合芯片工艺制备具有多段功能区的器件,该器件具有脊型波导区、锥形放大区和吸收调制区,各个区域的功能不一样,利用片上集成的AlGaN紫外光放大技术,可以有效地减少器件的尺寸,降低波长,经测试可以达到百瓦级的脉冲功率功率输出;采用高散热系数基板进行封装散热处理,散热效果好,确保器件的正常工作。本发明器件即激光器,采用锥型光放大技术,实现脉冲激光的片上集成放大,能够产生脉冲光,波长为紫外波段,可以应用于生物医疗、紫外通讯、光谱分析等领域。

技术领域

本发明涉及AlGaN半导体紫外脉冲激光器技术领域,具体涉及一种片上集成AlGaN脉冲激光器制备方法。

背景技术

近年来,GaN基半导体激光器由于其在显示、照明、通信等领域的强烈应用需求,引起了研究人员的广泛注意。受限于外延材料的衬底技术和生长技术,GaN基半导体激光器的先进技术进展缓慢,且大多集中在连续电流注入条件下,而在脉冲功率激光器方面,只有个别报道。2012年日本研究者报道了外腔放大条件下峰值功率为百瓦级、频率为GHz的脉冲功率激光器,但是其采用的是外腔放大,结构不够紧凑,且属于可见光波段,只采用GaN材料。为此,推出一种采用片上集成的AlGaN紫外光放大技术,有效地减少器件的尺寸,降低波长,输出功率高的片上集成AlGaN脉冲激光器制备方法为当世之所需。

发明内容

针对上述的不足,本发明目的在于,提供一种片上集成AlGaN脉冲激光器制备方法。采用锥型光放大技术,实现脉冲激光的片上集成放大,本发明所制备的器件可以应用与生物医疗、紫外通讯、光谱分析等领域。

本发明为实现上述目的,所提供的技术方案是:一种片上集成AlGaN脉冲激光器制备方法,其包括如下步骤:

一种片上集成AlGaN脉冲激光器制备方法,其包括如下步骤:采用MOCVD或MBE材料生长设备在AlN衬底上生长多层AlGaN外延结构,多层AlGaN外延结构的各层顺序为AlN缓冲层、本征AlGaN层、N型AlGaN包层、AlGaN波导层、AlGaN量子阱、AlGaN载流子限制层、AlGaN波导层、p型AlGaN包层和p型AlGaN欧姆接触层,Al组分根据材料的发光需求和折射率要求在0-1之间进行调节,厚度为1nm-1μm,掺杂浓度为1e16-1e19cm-3;在外延材料生长完成的基础上,然后采用芯片制备工艺制备所需的器件,具体用到光刻、刻蚀、蒸镀、解离、镀膜工艺技术。

作为本发明的一种优选方案,所述器件上具有脊型波导区、锥形放大区和吸收调制区。

作为本发明的一种优选方案,所述芯片制备工艺具体包括以下步骤:

S1:沉积SiO2或者SiN掩膜层,厚度为1nm-1μm,作为硬掩膜主要用于AlGaN的深刻蚀;

S2:对器件的各区域进行光刻,采用ICP-RIE刻蚀掩膜层和AlGaN层;采用BCl3、Cl2、Ar2作为刻蚀气体,去除多层AlGaN外延结构中不需要的部分,形成所需的图形;

S3:进行二次光刻,沉积P型欧姆接触电极层;材料的选择可以是多种高功函数的金属的组合,最终实现电流的有效注入,其材料的选择有Pd、Ti、Al、Ag、Cr、Au、Pt、Ni、Cu等,厚度为10nm-100nm。

S4:进行三次光刻,沉积SiO2或者SiN电学隔离层;厚度为1nm-1μm,对器件进行有效的保护,减少漏电和氧化,增加器件的使用寿命;

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