[发明专利]一种触控显示模组一体化电性能测试其装置

说明书

本发明公开了一种触控显示模组一体化电性能测试装置，包括触摸屏测试板和显示模组测试架，所述一体转接电路板上对称设置有两组完全相同的引脚排，每组引脚排设置有40个，依次分别为LED‑、LED+、RST、GND、TE、D3N、CAB、D3P、ID、GND、AVDD、D2N、VGH、D2P、VGL、GND、VCOM、CKN、NC、CKP、NC、GND、NC、D1N、NC、D1P、NC、GND、NC、DON、NC、DOP、VSN、GND、VSP、VCC、GND、1.8V、5V。本发明将电容式触摸屏与显示模组通过一体测试器件转接电路板进行同步电测，有效的提高作业人员进行电学性能的测试效率，杜绝两次电测工序，提高整体的生产测试效率的同时节省人工成本；减少电测次数的同时也降低了产品因周转，测试环境变化导致的外观、功能损伤的风险。

技术领域

本发明涉及光电显示技术领域，具体为一种触控显示模组一体化电性能测试装置。

背景技术

现有的触控显示模组产品电测工序大都是电容式触摸屏与显示模组分开进行电测，需要进行独立的两次测试，而且因为两部分是独立的驱动系统，且电测程序、方法均不相同，导致工艺路线分开进行，浪费人力成本的同时效率低下。

发明内容

本发明的目的在于提供一种触控显示模组一体化电性能测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种触控显示模组一体化电性能测试装置，包括触摸屏测试板和显示模组测试架，所述触摸屏测试板和显示模组测试架均电性连接于一体转接电路板，所述一体转接电路板电性连接有触控显示一体模组，所述触控显示一体模组包括触摸屏和显示模组；

所述一体转接电路板上对称设置有两组完全相同的引脚排，每组引脚排设置有40个，依次分别为LED-、LED+、RST、GND、TE、D3N、CAB、D3P、ID、GND、AVDD、D2N、VGH、D2P、VGL、GND、VCOM、CKN、NC、CKP、NC、GND、NC、D1N、NC、D1P、NC、GND、NC、DON、NC、DOP、VSN、GND、VSP、VCC、GND、1.8V、5V，所述显示模组测试架上的1-40个引脚依次连接在上侧引脚排上；

两组所述引脚排之间设置有5V、10VCC、VCC、VSP、VSN、VGL、VGH、AVDD、Reset、BL-、BL+，用来上、下连接两组引脚排的对应引脚；

所述一体转接电路板一侧设置有8个引脚，分别为SCL、SDA、RST-T、TX-P、RX-P、ID2、IO2、GND,其中，引脚SCL、SDA、RST-T、TX-P、RX-P、ID2、IO2分别连接在下侧引脚排的七个NC引脚上，所述触摸屏测试板上的1-8个引脚依次连接在一体转接电路板一侧的8个引脚上。

优选的，所述触控显示一体模组的1-40个引脚分别对应连接在所述一体转接电路板上。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

本发明将电容式触摸屏与显示模组通过一体测试器件转接电路板进行同步电测，有效的提高作业人员进行电学性能的测试效率，杜绝两次电测工序，提高整体的生产测试效率的同时节省人工成本；减少电测次数的同时也降低了产品因周转，测试环境变化导致的外观、功能损伤的风险。

附图说明

图1为本发明的测试装置整体结构示意图；

图2为本发明的一体转接电路板的正面引脚结构连接示意图；

图3为本发明的一体转接电路板的背面引脚结构连接示意图；

图4为本发明的显示模组测试架引脚示意图；

图5为本发明的触摸屏测试板引脚示意图；

图6为本发明的触控显示一体模组引脚示意图；