[发明专利]显示基板及其制作方法、检测方法、显示装置

说明书

本发明提供了一种显示基板及其制作方法、检测方法、显示装置，属于显示技术领域。其中，显示基板，包括显示区域和位于显示区域周边的走线区，所述走线区设置有多个绑定引脚，所述显示基板还包括：与所述多个绑定引脚一一对应的开关薄膜晶体管，每一所述开关薄膜晶体管的第一极与对应的绑定引脚连接；测试数据线，所述测试数据线与多个所述开关薄膜晶体管的第二极均连接，所述第一极为源极和漏极中的一者，所述第二极为源极和漏极中的另一者；第一控制开关，所述第一控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。通过本发明的技术方案，能够对绑定引脚进行检测。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是指一种显示基板及其制作方法、检测方法、显示装置。

背景技术

相关技术中，在显示基板母板上设置有与绑定引脚连接的测试单元，测试单元可以对绑定引脚进行检测，判断绑定引脚是否损坏；但测试单元位于显示基板切割线的外侧，在将显示基板母板切割为显示基板后，测试单元将会被切割掉，这样后续无法对绑定引脚进行检测。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种显示基板及其制作方法、检测方法、显示装置，能够对绑定引脚进行检测。

为解决上述技术问题，本发明的实施例提供技术方案如下：

一方面，提供一种显示基板，包括显示区域和位于显示区域周边的走线区，所述走线区设置有多个绑定引脚，所述显示基板还包括：

与所述多个绑定引脚一一对应的开关薄膜晶体管，每一所述开关薄膜晶体管的第一极与对应的绑定引脚连接；

测试数据线，所述测试数据线与多个所述开关薄膜晶体管的第二极均连接，所述第一极为源极和漏极中的一者，所述第二极为源极和漏极中的另一者；

第一控制开关，所述第一控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。

可选地，所述显示基板包括用于进行点灯检测的电学检测区域，所述测试数据线和所述第一控制开关位于所述电学检测区域。

可选地，还包括：

第二控制开关，所述第二控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。

可选地，所述第二控制开关与所述第一控制开关之间的距离大于阈值。

本发明实施例还提供了一种显示基板的检测方法，应用于如上所述的显示基板，所述检测方法包括：

通过所述第一控制开关控制所有的开关薄膜晶体管打开；

向所述测试数据线输入电信号，若显示基板显示出现异常，则判断所述测试引脚出现损伤。

可选地，还包括：

向所述测试数据线输入电信号后，通过所述第二控制开关控制所有的开关薄膜晶体管关闭。

本发明实施例还提供了一种显示装置，包括如上所述的显示基板。

本发明实施例还提供了一种显示基板的制作方法，所述显示基板包括显示区域和位于显示区域周边的走线区，所述走线区设置有多个绑定引脚，所述制作方法包括：

形成与所述多个绑定引脚一一对应的开关薄膜晶体管，每一所述开关薄膜晶体管的第一极与对应的绑定引脚连接；

形成测试数据线，所述测试数据线与多个所述开关薄膜晶体管的第二极均连接，所述第一极为源极和漏极中的一者，所述第二极为源极和漏极中的另一者；

形成第一控制开关，所述第一控制开关与多个所述开关薄膜晶体管的栅极连接，用于向开关薄膜晶体管的栅极输入高电平信号或低电平信号。