[发明专利]一种冗余分处的X射线镀层测厚仪

说明书

本发明提供一种冗余分处的X射线镀层测厚仪，其结构包括内侧腔、射线吸收片、底座、工作台、检测机、转换显示器、背输线、冗余分处装置，背输线设于转换显示器背部，内侧腔位于检测机内部，工作台顶部与射线吸收片相贴合，本发明能够通过单一单片机在常规状态下进行常规工作，而在出现超载工作时，能够通过拉控环套在受热时横向膨胀纵向收缩的结构特征，缩减对冗余分处片的距离限制，进而能够令其在对接条的辅助牵制下，实现与主片机完成组装，进而增强主片机的处理速率，并且在完成冗余处理后，能够实现主动分离，减小机器的消耗。

技术领域

本发明属于单片机领域，更具体地说，特别涉及一种冗余分处的X射线镀层测厚仪。

背景技术

X射线镀层测厚仪中主要通过X射线荧光法对单片机上的镀层厚度进行检测，由于镀层超过规定厚度值会令单片机在后续完成安装后，在工作过程中对电流的输送功率减小，当该单片机应用于高精度的仪器时，被动减小的输出数值会对实验数据产生一定影响。

基于上述描述本发明人发现，现有的一种冗余分处的X射线镀层测厚仪主要存在以下不足，比如：

由于处于X射线镀层测厚仪内部进行图像处理的单片机，由于在进行X射线镀层测试的过程中所需要的处理的信息量较大，且每一片单片机的处理能力存在极限，当单片机的处理极限不足以处理持续性的转输信息时，由于每个被测的单片机的测试时间固定，冗余的待测信息量会令测厚仪中的单片机延长计算时间，而由于单片机在接通后处于持续性工作状态，若是连装单片机，容易导致在处于待机状态下消耗电能增大。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种冗余分处的X射线镀层测厚仪，以解决现有由于处于X射线镀层测厚仪内部进行图像处理的单片机，由于在进行射线镀层测试的过程中所需要的处理的信息量较大，且每一片单片机的处理能力存在极限，当单片机的处理极限不足以处理持续性的转输信息时，由于每个被测的单片机的测试时间固定，冗余的待测信息量会令测厚仪中的单片机延长计算时间，而由于单片机在接通后处于持续性工作状态，若是连装单片机，容易导致在处于待机状态下消耗电能增大的问题。

针对现有技术的不足，本发明一种冗余分处的X射线镀层测厚仪的目的与功效，由以下具体技术手段所达成：一种冗余分处的X射线镀层测厚仪，其结构包括内侧腔、射线吸收片、底座、工作台、检测机、转换显示器、背输线、冗余分处装置，所述背输线设于转换显示器背部，所述内侧腔位于检测机内部，所述工作台顶部与射线吸收片相贴合，所述底座顶端通过嵌入的方式安装在工作台底部。

所述冗余分处装置包括支撑外架、吸附块、分处机构、封板、转轴，所述封板通过转轴与支撑外架活动连接在一起，所述吸附块通过嵌入的方式安装在封板内部，所述分处机构设于支撑外架内部，所述支撑外架与转换显示器固定连接在一起。

作为优选，所述分处机构包括主片机、侧分压机构、固定背板、副分片机，所述主片机与侧分压机构固定连接在一起，所述固定背板内部设有侧分压机构，所述侧分压机构与副分片机活动连接在一起，所述固定背板装设在最外部，而后朝向内部的安装顺序是侧分压机构、副分片机，主片机设在最内部。

作为优选，所述副分片机包括冗余分处片、对接条、锁盘，所述冗余分处片背部设有三个锁盘，所述对接条共设有两个且固定安装在冗余分处片背部左右两侧，所述锁盘三个呈现等边三角安装，每个锁盘内部设有三片锁接片并且中间的锁片上均设有小的锁接固定孔，能够加强其锁定的强度。

作为优选，所述对接条包括对接传输条、吸片、撑锥、导球，所述导球通过嵌入的方式安装在撑锥顶端，所述吸片内环与撑锥背部固定连接在一起，所述对接传输条通过嵌入的方式安装在撑锥左右两侧，所述吸片采用磁铁制成，其能够始终保持对目标物的吸引力，进而将其转换为对撑锥的变相推进力，能够令撑锥朝向目标物推进。