[发明专利]输送装置的整平单元及其应用的电子元件作业设备

说明书

本发明提供一种输送装置的整平单元及其应用的电子元件作业设备，其第一定位具及第二定位具之间供穿置具电子元件的载带，并于第一定位具或第二定位具设有至少一齿部件，该齿部件系于一面设有朝外且朝向底部逐渐倾斜扩大的顶推面，于齿部件嵌入载带的卡孔时，以利用齿部件的顶推面顶推卡孔而带动载带的该侧外移，进而整平载带，使载带的电子元件精准位于预设作业位置，达到有效整平载带及提高作业品质的实用效益。

技术领域

本发明涉及一种可外张整平载带，使载带的电子元件精准位于预设作业位置，以提高作业品质的整平单元。

背景技术

在现今，电子元件日趋精密微型化，并装配于一挠性材质制作的载带(如薄膜载带)，业者为确保电子元件的出厂品质，系以测试设备对电子元件执行测试作业，而淘汰出不良品；请参阅图1、图2，该测试设备设有一具探针卡111的测试装置11，并于测试装置11的后方配置一输送装置12，输送装置12设有一作X方向位移的移动架121，移动架121上装配二输送载带13的上链轮122及下链轮123，载带13上固设复数个待测的电子元件14，并于两侧开设复数个卡孔131，以嵌合于上链轮122的上链齿及下链轮123的下链齿，另于移动架121上固设一贴靠于载带13背面的承靠板124；于测试时，输送装置12的移动架121带动具电子元件14的载带13朝向测试装置11的探针卡111作X方向位移，使电子元件14接触探针卡111而执行测试作业；然而，由于载带13是挠性可弯曲的薄膜带体，其相对于探针卡111位置之中段带体易发生弯曲隆起变形，以致电子元件14的摆置位置产生偏移，并无法使电子元件14的接点精准对位接触探针卡111的探针执行测试作业，而影响测试准确性及测试品质，尤其对于测试精密微小的电子元件而言，如何使载带13保持平整以提高电子元件摆置精准性相当重要。

发明内容

本发明的目的在于：提供一种输送装置的整平单元及其应用的电子元件作业设备，解决现有技术中存在的上述技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种输送装置的整平单元，其特征在于，包含：

第一定位具：相对于载带的第一面设置，并设有至少一承靠面；

第二定位具：相对于该载带的第二面设置，并设有至少一开口部，以供显露该载带的电子元件；

至少一齿部件：装配于该第一定位具或该第二定位具，并于一面设有朝外且朝向底部逐渐倾斜扩大的顶推面，该齿部件供嵌入该载带的卡孔，而整平该载带；

定位驱动器：能够驱动该第一定位具或该第二定位具作第一方向位移，以带动该齿部件同步位移。

所述的输送装置的整平单元，其中，该齿部件呈固定式配置于该第一定位具或该第二定位具。

所述的输送装置的整平单元，其中，还包含至少一变距器，以调整该齿部件的位置。

所述的输送装置的整平单元，其中，该变距器是压缸或线性马达，或包含马达及传动组。

所述的输送装置的整平单元，其中，该齿部件的另一面朝内且为平面。

所述的输送装置的整平单元，其中，该齿部件的顶推面由顶部朝向该底部逐渐倾斜扩大，该齿部件的顶部面积小于该卡孔的面积，而该底部面积大于该卡孔的面积。

所述的输送装置的整平单元，其中，该齿部件的中心轴线相同于或向外偏移于该卡孔的中心轴线。

所述的输送装置的整平单元，其中，该定位驱动器是压缸或线性马达，或包含马达及传动组。

所述的输送装置的整平单元，其中，该输送装置还包含承载机构及输送机构，该承载机构设有至少一由承载驱动器驱动作第一方向位移的移动架，该输送机构装配于该承载机构的移动架，并于该移动架设有第一输送轮及第二输送轮，以输送该载带至该整平单元，该整平单元装配于该移动架。