[发明专利]液晶显示面板及其测试方法

权利要求书

1.一种液晶显示面板，包括像素单元及用于驱动所述像素单元的驱动电路，其特征在于，所述液晶显示面板还包括测试走线和测试垫，所述测试垫位于液晶显示面板的非显示区，所述测试走线连通所述测试垫和所述驱动电路，所述测试垫用于与成盒测试的探针接触，以及在对呈阵列排布的多个液晶显示面板切割之前与阵列测试的探针接触；

所述测试垫包括第一测试垫、第二测试垫和第三测试垫，所述第一测试垫通过对应的测试走线连接所述液晶显示面板的扫描线，所述第二测试垫通过对应的测试走线连接所述液晶显示面板的数据线，所述第三测试垫通过对应的测试走线连接液晶显示面板的公共电极；

与所述第二测试垫连接的测试走线排布于液晶显示面板上部的非显示区，所述第一测试垫排布于所述液晶显示面板侧部的非显示区；以及

与所述第一测试垫连接的测试走线包括水平走线和竖直走线，所述水平走线的两端分别连接竖直走线和第一测试垫，所述竖直走线连接所述扫描线，其中所述水平走线和所述竖直走线的连接点与所述扫描线和所述竖直走线的连接点错开。

2.根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述测试垫位于所述液晶显示面板同一侧的非显示区内。

3.根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述测试垫集成于所述液晶显示面板的非显示区的电路板中。

4.一种液晶显示面板的测试方法，其特征在于，包括：

形成呈阵列排布的多个待切割区的液晶显示面板，每一所述液晶显示面板包括位于其非显示区的测试垫和测试走线，所述测试走线连通所述测试垫和所述液晶显示面板的用于驱动像素单元的驱动电路；

在未对呈阵列排布的多个所述液晶显示面板进行切割之前，利用所述测试垫和测试走线对其连接的液晶显示面板进行阵列测试；

在对呈阵列排布的多个液晶显示面板进行切割之后，利用所述测试垫和测试走线对其连接的液晶显示面板进行成盒测试，其中

所述测试垫包括第一测试垫、第二测试垫和第三测试垫，所述第一测试垫通过对应的测试走线连接所述液晶显示面板的扫描线，所述第二测试垫通过对应的测试走线连接所述液晶显示面板的数据线，所述第三测试垫通过对应的测试走线连接液晶显示面板的公共电极，与所述第二测试垫连接的测试走线排布于液晶显示面板上部的非显示区，所述第一测试垫排布于所述液晶显示面板侧部的非显示区；以及

与所述第一测试垫连接的测试走线包括水平走线和竖直走线，所述水平走线的两端分别连接竖直走线和第一测试垫，所述竖直走线连接所述扫描线，其中所述水平走线和所述竖直走线的连接点与所述扫描线和所述竖直走线的连接点错开。

5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述测试垫位于所述液晶显示面板同一侧的非显示区内，利用同一侧的测试垫和与其连接的测试走线对液晶显示面板进行阵列测试和成盒测试。