[发明专利]基于超连续谱光源的流动粒子测量方法及装置在审
申请号: | 202010038773.4 | 申请日: | 2020-01-14 |
公开(公告)号: | CN111239087A | 公开(公告)日: | 2020-06-05 |
发明(设计)人: | 刘永;杜明 | 申请(专利权)人: | 苏州众为光电有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N15/14 |
代理公司: | 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 | 代理人: | 张川 |
地址: | 215000 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 连续谱 光源 流动 粒子 测量方法 装置 | ||
1.基于超连续谱光源的流动粒子测量方法,其特征在于,包括如下步骤:
配置流式细胞仪使得被检测粒子逐个通过其液流系统,若干被检测粒子形成粒子流束;
利用超连续谱光源发射宽光谱激发光束激发所述粒子流束;其中,所述宽光谱激发光束垂直于所述粒子流束;
利用光分离元件将所述宽光谱激发光束进行空间扩展,获得若干段不同波长的激发光;
所述若干段不同波长的激发光激发被检测粒子,以使得采集系统接收被检测粒子在所述若干段不同波长的激发光激发下获得的前向散射光信号、侧向散射光信号以及荧光信号。
2.如权利要求1所述的基于超连续谱光源的流动粒子测量方法,其特征在于,所述利用超连续谱光源发射宽光谱激发光束激发所述粒子流束,包括:
利用光纤耦合器将超短脉冲耦合到光子晶体光纤中,所述超短脉冲经所述光子晶体光纤透射以形成所述超连续谱光源;其中,所述超短脉冲通过超短脉冲光源发出。
3.如权利要求2所述的基于超连续谱光源的流动粒子测量方法,其特征在于,所述超短脉冲经所述光子晶体光纤透射以形成所述超连续谱光源,包括:
所述光子晶体光纤的横截面上分布若干圈空气孔,从所述光子晶体光纤内向外方向,所述空气孔呈六边形排列;其中,外圈的所述空气孔为圆形,最内圈的所述空气孔为椭圆形。
4.如权利要求3所述的基于超连续谱光源的流动粒子测量方法,其特征在于,所述最内圈的所述空气孔填充物为五硫化二砷。
5.如权利要求4所述的基于超连续谱光源的流动粒子测量方法,其特征在于,所述椭圆形的所述空气孔的纵轴线距离大于所述圆形的所述空气孔的直径。
6.如权利要求1所述的基于超连续谱光源的流动粒子测量方法,其特征在于,所述利用光分离元件将所述宽光谱激发光束进行空间扩展,包括:
利用所述光分离元件将所述宽光谱激发光束扩展为若干种波长的激发光,以使得被检测粒子被若干种波长的所述激发光连续的测量。
7.如权利要求6所述的基于超连续谱光源的流动粒子测量方法,其特征在于,在所述激发光照射所述粒子流束之前通过若干滤光片获得区别于所述激发光的波长的激发光,以使得被检测粒子被若干种波长的所述激发光间断的测量。
8.如权利要求1所述的基于超连续谱光源的流动粒子测量方法,其特征在于,所述通过采集系统接收被检测粒子的前向散射光信号、侧向散射光信号以及被激发的荧光信号,包括:
利用聚透镜将接收的所述前向散射光信号、侧向散射光信号以及被激发的荧光信号准直为平行光会聚到面阵探测器上,所述面阵探测器上不同的感应单元感应不同的光信号;通过图像处理器采集所述面阵探测器上的光信号。
9.如权利要求1所述的基于超连续谱光源的流动粒子测量方法,其特征在于,所述通过采集系统接收被检测粒子的前向散射光信号、侧向散射光信号以及被激发的荧光信号,包括:
利用光电探测器采集被检测粒子发出的所述前向散射光信号、侧向散射光信号以及被激发的荧光信号,并通过数据处理器将采集的光信号转换为电信号。
10.基于超连续谱光源的流动粒子测量装置,其特征在于,包括装置本体,所述装置本体包括液流控制组件、光学控制组件、信号采集组件和主控组件,所述液流控制组件、光学控制组件、信号采集组件电性连接所述主控组件;其中,
所述液流控制组件用于将被检测粒子在气压的作用下形成单列粒子流束;
所述光学控制组件设置于所述粒子流束的一侧,所述光学控制组件包括超连续谱光源与光分离元件,所述超连续谱光源与光分离元件相邻设置;所述超连续谱光源发出与所述粒子流束垂直的宽光谱激发光束;所述光分离元件将所述宽光谱激发光束扩展为若干种波长的激发光,以使得单个被检测粒子经过所述若干种波长的激发光;
所述信号采集组件设置于所述粒子流束的另一侧,所述信号采集组件用于采集所述光学控制组件作用于所述粒子流束上产生的光信号。
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