[发明专利]头颈拐点的检测方法、装置以及计算机设备在审
申请号: | 202010040825.1 | 申请日: | 2020-01-14 |
公开(公告)号: | CN111259788A | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 王荣军;张晶;刘利康 | 申请(专利权)人: | 华志微创医疗科技(北京)有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/32;G06K9/46;G06T7/00 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 张萌 |
地址: | 100000 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 头颈 拐点 检测 方法 装置 以及 计算机 设备 | ||
1.一种头颈拐点的检测方法,其特征在于,所述方法包括:
确定初始中心侧影线的第一数据点集,所述初始中心侧影线是人体头面部点云对象在三维欧式空间中校正后的侧影线;
将所述第一数据点集中的所有数据点投影至二维平面,得到二维的第二数据点集;所述二维平面与所述三维欧式空间中的X轴垂直;
基于所述第二数据点集通过滑动窗口算法进行平滑处理,得到三维的第三数据点集;
计算所述第三数据点集中的每个数据点在所述二维平面上的斜率和方差,并根据所述斜率和所述方差从所述第三数据点集中确定头颈拐点。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述第一数据点集中的所有数据点投影至二维平面,得到二维的第二数据点集的步骤之前,还包括:
建立与所述三维欧式空间中的X轴垂直的二维直角坐标系,得到与所述X轴垂直的二维平面。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述第一数据点集中的所有数据点投影至二维平面,得到二维的第二数据点集的步骤,包括:
通过降维将所述第一数据点集中的所有数据点映射为所述二维平面上的数据点,得到所述二维平面上的二维的第二数据点集。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述第二数据点集通过滑动窗口算法进行平滑处理,得到三维的第三数据点集的步骤,包括:
按照所述二维平面中的X轴坐标值的大小顺序,对所述第二数据点集中的数据点进行排序;
基于排序后的所述第二数据点集生成所述二维平面的直方图;
将所述直方图的组距作为滑动窗口的窗宽,通过滑动窗口算法对所述直方图的数据进行平滑处理,得到三维的第三数据点集。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述斜率和所述方差从所述第三数据点集中确定头颈拐点的步骤,包括:
针对所述第三数据点集中的所有数据点,将所述斜率大于零且所述方差大于预设值的位置对应的目标数据点,确定为头颈拐点。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
将所述目标数据点的坐标值确定为所述头颈拐点的坐标值,并输出所述头颈拐点的坐标值。
7.一种头颈拐点的检测装置,其特征在于,包括:
确定模块,用于确定初始中心侧影线的第一数据点集,所述初始中心侧影线是人体头面部点云对象在三维欧式空间中校正后的侧影线;
投影模块,用于将所述第一数据点集中的所有数据点投影至二维平面,得到二维的第二数据点集;所述二维平面与所述三维欧式空间中的X轴垂直;
处理模块,用于基于所述第二数据点集通过滑动窗口算法进行平滑处理,得到三维的第三数据点集;
计算模块,用于计算所述第三数据点集中的每个数据点在所述二维平面上的斜率和方差,并根据所述斜率和所述方差从所述第三数据点集中确定头颈拐点。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述处理模块具体用于:
按照所述二维平面中的X轴坐标值的大小顺序,对所述第二数据点集中的数据点进行排序;
基于排序后的所述第二数据点集生成所述二维平面的直方图;
将所述直方图的组距作为滑动窗口的窗宽,通过滑动窗口算法对所述直方图的数据进行平滑处理,得到三维的第三数据点集。
9.一种计算机设备,包括存储器、处理器,所述存储器中存储有可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述权利要求1至6任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有机器可运行指令,所述计算机可运行指令在被处理器调用和运行时,所述计算机可运行指令促使所述处理器运行所述权利要求1至6任一项所述的方法。
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