[发明专利]一种用于研究颗粒运动轨迹的取样装置有效

专利信息
申请号: 202010041313.7 申请日: 2020-01-15
公开(公告)号: CN111220351B 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 陶友瑞;黄震 申请(专利权)人: 河北工业大学
主分类号: G01M10/00 分类号: G01M10/00;G01N21/84;G01N23/046
代理公司: 天津市鼎拓知识产权代理有限公司 12233 代理人: 刘雪娜
地址: 300400 天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 研究 颗粒 运动 轨迹 取样 装置
【权利要求书】:

1.一种用于研究颗粒运动轨迹的取样装置,其特征在于,包括长底板(100);所述长底板(100)上沿轴线方向依次设有通过连接机构连接的投料管(110)和多个取样管(120);所述投料管(110)上设有至少两个投料口(130);所述投料管(110)远离所述取样管(120)的一端处设有动力机构;所述连接机构包括隔板(200)和滑槽;所述隔板(200)沿所述滑槽的方向设有两个工位;两个所述工位上分别对应所述取样管(120)设有相应的第一通孔和第二通孔;所述第一通孔内可拆卸安装有用于封堵所述取样管(120)的端盖(121);所述取样管(120)通过滑板(122)安装在所述滑槽上;所述投料管(110)与相邻的所述第二通孔连接。

2.根据权利要求1所述的用于研究颗粒运动轨迹的取样装置,其特征在于,所述动力机构包括位于所述投料管(110)内部的蜗杆(111)和用于驱动蜗杆(111)的电机(112)。

3.根据权利要求1所述的用于研究颗粒运动轨迹的取样装置,其特征在于,所述滑板(122)由第一板和第二板拼接而成;所述第一板和第二板沿滑动方向排布。

4.根据权利要求3所述的用于研究颗粒运动轨迹的取样装置,其特征在于,所述第一板包括上板和下板;所述上板和下板对接处对应所述取样管(120)分别设有相应的半圆孔。

5.根据权利要求1所述的用于研究颗粒运动轨迹的取样装置,其特征在于,所述滑槽包括上滑槽和下滑槽;所述下滑槽固定安装在所述长底板(100)上;所述上滑槽可拆卸安装在所述隔板(200)上。

6.根据权利要求1所述的用于研究颗粒运动轨迹的取样装置,其特征在于,所述取样管(120)为亚克力管。

7.根据权利要求1所述的用于研究颗粒运动轨迹的取样装置,其特征在于,所述取样管(120)的两端面分别设有螺纹孔;所述螺纹孔沿圆周方向均匀排布。

8.根据权利要求7所述的用于研究颗粒运动轨迹的取样装置,其特征在于,所述端盖(121)上对应所述螺纹孔设有相应的螺纹通孔。

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