[发明专利]模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法及测试设备有效

申请号：	202010041470.8	申请日：	2020-01-15
公开（公告）号：	CN111189616B	公开（公告）日：	2022-01-25
发明（设计）人：	刘永;杜明	申请（专利权）人：	苏州众为光电有限公司
主分类号：	G01M11/00	分类号：	G01M11/00
代理公司：	北京远大卓悦知识产权代理有限公司 11369	代理人：	张川
地址：	215000 ***	国省代码：	江苏;32
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摘要：
搜索关键词：	模拟光子晶体光纤状态测试方法设备
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【说明书】：

本发明提供的模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法，包括步骤如下：测试前先对光子晶体光纤试样进行检测，记录作为测试前的损耗初始值α₁；将试样的一端固定在旋转臂上，并将试样的部分缠绕在绕线轮上，并将试样的两端接通至检测装置上；固定座将试样中间端固定，旋转臂往复摆动，检测装置记录测试过程的传导过程中的损耗α₂；固定座与试样脱离接触，直线驱动器驱使旋转臂移动；将固定座将试样重新固定，旋转臂往复摆动，检测装置记录测试过程的传导过程中的损耗α₃；测试结束，将试样取下，测试并记录试样传导过程中的损耗α₄，该传导测试方法操作方便，便于光子晶体光纤模拟现实的传导状态。

技术领域

本发明属于测试设备领域，具体涉及模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法，还具体涉及一种测试设备。

背景技术

光子晶体光纤(Photonic Crystal Fibers)，其中的一类硫系玻璃光子晶体光纤，由于硫系玻璃光纤的色散值平坦且接近零，这使得脉冲种子光源的波长有了更广泛的选择，在光学相干断层扫描、频谱检测、非线性显微镜等领域有着不可估量的应用前景；该类硫系玻璃光子晶体光纤其导向实心核心区域被气孔包围。通过控制芯尺寸，气孔尺寸和周期性，它可以在PCF的分散设计中实现显着的灵活性，

但是光子晶体光纤的包层区气孔的排列方式能够极大地影响模式性质，在正常使用过程中光子晶体光纤常会受到弯曲、扭转、拉伸的作用力，这使得光子晶体光纤使得包层区气孔产生变化，从而影响传导效率，在光子晶体光纤测试领域中，现有的测试设备常模拟光子晶体光纤受到一种作用力的影响，而在现实使用过程中，光子晶体光纤常受到多种作用力共同的影响，需要模拟光子晶体光纤在现实使用过程受力状态下，测试光子晶体光纤传导效率。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明提出的模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法。

本发明提供的模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法，包括步骤如下：

S1、测试前先对光子晶体光纤试样进行检测，记录作为测试前的损耗初始值α₁；

S2、将试样的一端固定在旋转臂上，并将试样的部分缠绕在绕线轮上，并将试样的两端接通至检测装置上；

S3、固定座将试样中间端固定，旋转臂往复摆动，检测装置记录测试过程的传导过程中的损耗α₂；

S4、固定座与试样脱离接触，直线驱动器驱使旋转臂移动；

S5、将固定座将试样重新固定，旋转臂往复摆动，检测装置记录测试过程的传导过程中的损耗α₃；

S6、测试结束，将试样取下，测试并记录试样传导过程中的损耗α₄；

通过直线驱动器驱使旋转臂移动，旋转臂驱使试样转动，从而试样在不少于两个受力状态下的实施测试。

优选地，在步骤S6中，将试样取下后，在室温环境下静置2h后，施行测试。

优选地，在步骤S3、S5中，固定座将试样后，通过直线驱动器驱使旋转臂抬升1°。