[发明专利]元器件失效率预计方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.一种元器件失效率预计方法，其特征在于，包括：

确定待测试元器件组中的失效元器件，并获取所述失效元器件的使用总时长、失效数量和所述失效元器件在所述待测试元器件中的置信度；其中，所述待测试元器件组中的元器件类型相同；

根据所述使用总时长、所述失效数量和所述置信度确定所述待测试元器件组在不同参考应力下的基本失效率，得到多个基本失效率；

根据所述待测试元器件组的所述元器件类型，确定所述待测试元器件组在不同诱发应力下的影响系数，得到多个影响系数；其中，所述诱发应力与所述参考应力的应力类型相同；

根据所述元器件类型和所述待测试元器件组的元器件等级确定质量系数；

获取在不同的所述诱发应力下所述失效元器件的持续工作时间，并根据所述持续工作时间计算所述失效元器件在不同所述诱发应力下的持续工作时间占比，得到多个持续工作时间占比；

根据所述多个基本失效率、所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比确定所述待测试元器件组的失效率。

2.根据权利要求1所述的元器件失效率预计方法，其特征在于，所述根据所述多个基本失效率、所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比确定所述待测试元器件组的失效率，包括：

计算所述待测试元器件组在各个所述参考应力下的所述基本失效率和在与所述参考应力对应的所述诱发应力下的影响系数的乘积，得到多个第一乘积；

计算所述多个第一乘积的和，得到第一累计和；

分别计算所述第一累计和与所述失效元器件在各个所述诱发应力下的持续工作时间占比的乘积，得到多个第二乘积；

计算所述多个第二乘积的和，得到第二累计和；

计算所述第二累计和与所述质量系数的乘积，得到所述待测试元器件组的失效率。

3.根据权利要求1所述的元器件失效率预计方法，其特征在于，所述根据所述多个基本失效率、所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比确定所述待测试元器件组的失效率，包括：

通过公式(1)确定所述待测试元器件组的失效率：

其中，λ表示所述待测试元器件组的失效率，λ_i表示所述待测试元器件组在第i种所述参考应力下的基本失效率，π_i表示所述待测试元器件组第i种所述诱发应力对应的影响系数，π_Q表示所述质量系数，P_j表示与第j个所述诱发应力对应的所述持续工作时间占比。

4.根据权利要求1所述的元器件失效率预计方法，其特征在于，所述根据所述使用总时长、所述失效数量和所述置信度确定所述待测试元器件在不同参考应力下的基本失效率，得到多个基本失效率，包括：

通过公式(2)确定所述多个基本失效率：

其中，λ_i表示在第i种所述参考应力下的所述基本失效率，γ表示所述失效数量，T₀表示所述使用总时长，α表示所述置信度，χ²_1-α表示所述失效元器件在所述待测试元器件组中的卡方分布。

5.根据权利要求1所述的元器件失效率预计方法，其特征在于，所述获取所述失效元器件的使用总时长，包括：

根据所述元器件类型确定所述失效元器件在各个所述诱发应力下的加速系数；

根据在不同的所述诱发应力下所述失效元器件的持续工作时间和所述加速系数确定所述失效元器件的在各个所述参考应力量下的使用时长；

根据所有所述失效元器件的使用时长确定所述失效元器件的使用总时长。

6.根据权利要求5所述的元器件失效率预计方法，其特征在于，所述根据在不同的所述诱发应力下所述失效元器件的持续工作时间和所述加速系数确定所述失效元器件的在各个所述参考应力量下的使用时长，包括：

通过公式(3)确定所述使用时长：

其中，t'表示所述使用时长，t_i表示在第i种所述诱发应力下所述失效元器件的持续工作时间，AF_i表示在第i种诱发应力下的所述加速系数。