[发明专利]一种芯片脚位识别模组及其识别方法

说明书

本发明旨在提供一种占用空间小、成本低、能够分配导通线路并自动识别对应关系导通的芯片脚位识别模组及其识别方法。所述芯片脚位识别模组包括引脚连接模块、开短路检测模块、导通模块、若干测试电路以及处理器，所述开短路检测模块及导通模块均与所述引脚连接模块的输出端连接，所述开短路检测模块与所述处理器电性连接，若干所述测试电路对应与所述导通模块的若干个输出端连接，若干所述测试电路均与所述处理器电信号连接，所述处理器与外部的上位机电信号连接；所述识别方法为基于所述芯片脚位识别模组进行的芯片较为自动识别方法。本发明应用于芯片测试的技术领域。

技术领域

本发明应用于芯片测试的技术领域,特别涉及一种芯片脚位识别模组及其识别方法。

背景技术

随着半导体技术的发展，集成芯片的功能越来越强大，并且体积越来越小，当集成芯片的体积小到人眼无法识别出外型特征时，不管是自动化生产线还是手动生产线，均需要借助视觉检测系统来对集成芯片的引脚排序进行分辩后，再接入测试设备对集成芯片进行检测。然而视觉检测系统成本高、结构复杂、占用空间大、测试时间长且维护困难。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种占用空间小、成本低、能够分配导通线路并自动识别对应关系导通的芯片脚位识别模组及其识别方法。

本发明所采用的技术方案是：所述芯片脚位识别模组包括引脚连接模块、开短路检测模块、导通模块、若干测试电路以及处理器，所述开短路检测模块及导通模块均与所述引脚连接模块的输出端连接，所述开短路检测模块与所述处理器电性连接，若干所述测试电路对应与所述导通模块的若干个输出端连接，若干所述测试电路均与所述处理器电信号连接，所述处理器与外部的上位机电信号连接；所述引脚连接模块包括至少两个与待测芯片引脚连接的探针以及数量与所述探针的数量相等的若干第一继电器，所有所述第一继电器上的若干输入端与相同顺位的所述探针对应连接；所述导通模块包括数量与所述探针的数量相等的若干第二继电器，所有所述第二继电器上的若干输入端与相同顺位的所述第一继电器的输出端对应连接，若干所述第二继电器的输出端与若干所述测试电路对应连接。

由上述方案可见，通过所述引脚连接模块与待测芯片的引脚对接，并通过若干所述第一继电器作为切换结构，进而实现待测芯片引脚导通关系的自由切换，便于所述开短路检测模块进行两个待测引脚之间电路内阻的检测，以及切换不同的引脚组合。所述导通模块用于完成引脚检测后，将引脚与其对应的测试电路进行电路导通，进而实现无需拍照后对芯片姿态调整后再进行引脚连接和与测试电路导通。所述芯片脚位识别模组的整体占用空间小，成本低，能够免除测试前调整的时间，提高测试效率。其中，所述测试电路为产品测试所需的电路。

一个优选方案是，所述开短路检测模块包括第三继电器和第四继电器，所述第三继电器及所述第四继电器的若干输出端均与相同顺位的所述第一继电器的输出端对应连接，所述第三继电器的输出端通过电压跟随器与所述处理器电性连接，所述第三继电器的输出端还通过定值电阻与低压电源连接，所述第四继电器的输出端接地。

由上述方案可见，通过设置所述定制电阻防止检测时短路烧毁电路，同时通过设置所述定值电阻便于计算当前导通引脚间的电路内阻。通过所述第三继电器和所述第四继电器配合，实现引脚与所述开短路检测模块导通。通过所述电压跟随器获取导通引脚间的电压值，进而通过计算得出导通引脚间的电路内阻值，导通引脚间的电路内阻值用于与待测芯片的参数进行比对，进而得出引脚的顺位关系。

所述识别方法包括以下步骤：

A.将待测芯片与若干所述探针对接，所述处理器接收到检测指令后开始识别脚位，所述处理器通过控制接口的通断使所述第三继电器、第四继电器、所有的所述第一继电器及第二继电器断开；

B.所述处理器通过接口控制第一顺位和第二顺位的两个所述第一继电器的第一顺位输入端和输出端导通；