[发明专利]一种测量材料超导特性的谐振频率电路结构

权利要求书

1.一种测量材料超导特性的谐振频率电路结构，其特征在于，包括金属线圈、第一可调电容C₁、第二可调电容C₂、第三可调电容C₃，待测材料放置在所述金属线圈中，所述金属线圈与所述第一可调电容C₁、所述第二可调电容C₂串联，串联之后再与所述第三可调电容C₃并联，其中所述第一可调电容C₁和所述第二可调电容C₂用于调节整个电路的谐振频率，所述第三可调电容C₃用于匹配电路的谐振频率并获得高谐振品质因子，电路的两端利用射频同轴电缆连接至网络分析仪的反射端口上，通过所述网络分析仪测量整个电路的谐振频率；

将含有超导样品的电路放置在外置的磁场和低温系统中，从而测量得到谐振频率在某一磁场下随温度的变化曲线。

2.根据权利要求1所述的谐振频率电路结构，其特征在于，所述金属线圈等效为线圈电感L_C和线圈电阻R_C，所述线圈电感L_C和所述线圈电阻R_C串联。