[发明专利]一种阵列基板和显示面板

说明书

本申请公开了一种阵列基板，设置有第一非显示区和第二非显示区；第一非显示区上由内至外依次形成有第1个至第N个第一测试焊盘，以及与第1个至第N个第一测试焊盘对应连接的第1条至第N条第一时钟信号线；且第二非显示区上设置有与第一非显示区对称分布的第1个至第N个第二测试焊盘和第1条至第N条第二时钟信号线。

技术领域

本申请涉及GOA显示技术领域，尤其涉及GOA显示面板技术领域，具体涉及一种阵列基板和显示面板。

背景技术

GOA(Gate On Array，阵列基板行驱动)产品的短路棒测试(Short Bar Test)原理是利用短路棒(Shortting bar)点灯机对摆放于panel(显示面板)的OLB(OuterLeadBonding，外引脚贴合)区两个角落的WOA(Wire On Array，设置在阵列基板上的金属走线)test pad(测试焊盘)、靠内侧的多组像素焊盘以及公共焊盘(R/G/B/Com pad)进行扎针，施加电压后驱动Panel点亮。

GOA产品的时钟信号线CK1～CKn中的时钟信号线CKn总是固定在panel两侧所有时钟信号线线路的最外侧，所以时钟信号线CKn与对应测试焊盘的定义位置总有一侧是相反的，即栅极(gate)侧的时钟信号线CKn始终靠面外，而另外一侧的时钟信号线CKn靠面内。

不同时钟信号线的驱动电压不同，为避免panel两侧出现不同时钟信号线的走线出现相互交叉或者重叠(Cross)现象，从而引起短路(Short)烧伤的状况，如图1所示；通常是将这些时钟信号线的走线，从这些测试焊盘向Panel外侧方向引出后，在最外侧覆晶薄膜(COF)的对应位置聚集并进行位置转换，如图2所示；但是，这样走线会增加这些时钟信号线的绕线长度，从而加大了这些时钟信号线的阻抗，并且这些时钟信号线的走线聚集位置往往受到OLB尺寸的限制，需要在此处压缩至少70％以上的线宽，从而导致这些时钟信号线在该处所承受的负载(loading)突然剧增，容易引发烧伤，造成点灯画面异常。

发明内容

本申请提供了一种阵列基板，解决的测试焊盘定义位置不当，导致这些时钟信号线需要绕线和压缩线宽，所造成的点灯画面异常的问题。

第一方面，本申请提供了一种阵列基板，阵列基板上设置有显示区，以及相对设置于显示区两侧的第一非显示区和第二非显示区；第一非显示区上由内至外依次形成有第1个至第N个第一测试焊盘，以及与第1个至第N个第一测试焊盘对应连接的第1条至第N条第一时钟信号线；第1个至第N个第一测试焊盘位于阵列基板的端部区；且第二非显示区上设置有与第一非显示区对称分布的第1个至第N个第二测试焊盘和第1条至第N条第二时钟信号线；其中，N为不小于2的正整数。

结合第一方面，在第一方面的第一种实施方式中，第1个至第N个第二测试焊盘位于同一行且相互间隔分布。

结合第一方面的第一种实施方式，在第一方面的第二种实施方式中，第1条至第N条第二时钟信号线均包括从上至下依次连接的第一竖直段、水平段以及第二竖直段；第1条至第N条第一竖直段依次分别与第1个至第N个第二测试焊盘对应连接。

结合第一方面的第二种实施方式，在第一方面的第三种实施方式中，第1条至第N条第一竖直段分别对应位于第1个至第N个第二测试焊盘的正下方。

结合第一方面的第三种实施方式，在第一方面的第四种实施方式中，第1条至第N条水平段分别对应位于第1条至第N条第一竖直段的外侧。

结合第一方面的第四种实施方式，在第一方面的第五种实施方式中，第1条至第N条第一竖直段的长度依次减小。

结合第一方面的第五种实施方式，在第一方面的第六种实施方式中，第1条至第N条水平段的长度依次减小。

结合第一方面的第六种实施方式，在第一方面的第七种实施方式中，第1条至第N条第一竖直段的相互间距、第1条至第N条水平段的相互间距以及第1条至第N条第二竖直段的相互间距依次减小。