[发明专利]基于LabVIEW的I-V自适应测量装置及测试方法

权利要求书

1.一种基于LabVIEW的I-V自适应测量装置，包括待测组件、激励模块、I-V测试模块和上位机，其特征在于：所述I-V测试模块通过GPIB、RS232、RS485、USB接口连接上位机内的数据处理单元，所述激励模块连接待测组件，待测组件通过总开关S连接I-V测试模块，所述激励模块还连接上位机内可调节激励信号大小和步长的激励控制单元。

2.根据权利要求1所述的基于LabVIEW的I-V自适应测量装置，其特征在于：所述I-V测试模块为至少一个数字源表并联连接，每个数字源表都对应串联有开关S_n,每个数字源表都分别通过GPIB、RS232、RS485、USB接口连接上位机内的数据处理单元。

3.根据权利要求2所述的基于LabVIEW的I-V自适应测量装置，其特征在于：开关S_n连接有继电器，所述继电器通过通用串行总线连接上位机内的继电器控制单元。

4.根据权利要求1所述的基于LabVIEW的I-V自适应测量装置，其特征在于：所述上位机为基于LabVIEW环境下的上位机，所述I-V测试模块内的数字源表根据可测电流量程自大而小排列。

5.一种基于LabVIEW的I-V自适应测试方法，包括如下步骤：

步骤一：将待测组件连接在测量装置的激励模块和总开关S之间；

步骤二：关闭开关S和S_n，对I-V测试模块内的数字源表进行开机预热；

步骤三：配置VISA仪器驱动，初始化上位机，调节数字源表和激励模块的波特率、数据位、停止位和校验位四个参数一致，设置激励模块电压的变化范围和步长值；

步骤四：上位机的继电器控制单元通过通用串行总线控制继电器接通最大量程的数字源表，使得数字源表和待测组件之间形成一个回路；

步骤五：基于LabVIEW的上位机将待测组件的待测信号与数字源表可测的电流量程范围进行比较，当数字源表可测的电流量程范围与待测组件的待测信号不匹配时，基于LabVIEW的上位机内的继电器控制单元控制继电器接通量程范围小一级的数字源表，再次进行对比，直至待测组件的待测信号与接通的数字源表的可测电流量程范围相匹配为止；

步骤六：上位机内的激励控制单元控制激励模块给待测组件一个电压激励信号，I-V测试模块采集不同激励电压下电流的变化关系，并将数据传输给上位机的数据处理单元进行滤波降噪处理，然后绘制I-V曲线并显示在LabVIEW前面板，同时将数据以excel表格的形式存储在目标路径；

步骤七：测试完毕断开总S开关和开关S_n。

6.根据权利要求5所述的基于LabVIEW的I-V自适应测试方法，其特征在于：所述降噪处理在LabVIEW中通过数字滤波实现或者选择调用Matlab中相应的算法对数据进行处理从而降噪。

7.根据权利要求5所述的基于LabVIEW的I-V自适应测试方法，其特征在于：步骤六中传输给上位机数据处理单元内的数据可以通过数字源表采集获取，也可以人为向基于LabVIEW的上位机导入通过其他装置采集的数据，直接进行数据的处理。