[发明专利]大面积快速探测复合型结点探测系统及探测方法

说明书

一种大面积快速探测复合型结点探测系统，其特征在于：包括探测主机，产生和发射高频2.4G微波信号，接收和处理高频4.8G/7.2G微波信号并且将探测信号进行显示；阵列式机械装置，安装多个探测主机；控制单元，供电并对每个探测主机进行控制。一种大面积快速探测复合型结点探测方法。本发明对照现有技术的有益效果是，由于对结构进行了改进，使其能够快速沿横向对很宽的横截面同步探测半导体元器件及金属腐朽结点，因此能够快速完成大面积半导体元器件及金属腐朽结点的探测，可应用于大面积爆炸现场、军事勘查、反恐防暴、监狱违禁品搜查、刑侦技侦、搜救搜查、追踪搜索等领域，是一种较为实用的系统和方法。

技术领域

本发明涉及一种半导体元器件及金属腐朽结点的探测设备及探测方法，更具体地说涉及一种大面积快速探测半导体元器件及金属腐朽结点的大面积快速探测复合型结点探测系统及探测方法。

背景技术

现今社会，高科技犯罪越来越多，出现了多种类别的爆炸物，其零部件在经过爆炸后很难进行识别排查，如果不能及时找出来，会对人们造成巨大的不良影响，对人们精神上产生长时间的伤害，造成公众的恐慌。

在勘查现场中，遇到排查范围不仅宽度宽，而且面积还很大的情况，因为探测人员必须快速找到爆炸装置的直接有效遗留物，以便为侦查提供明确的方向和线索，为案件审判提供关键证据。但是，爆炸案件现场通常是一片狼藉，爆炸遗留物飞散距离较远，如果有杂草、灌木丛等遮挡，再遇到下雨，行人踩踏等情况，遗留物就很难被发现，普通的探测装置难以做到大面积、高效率的快速探测识别。

发明内容

本发明的一个目的，是提供一种大面积快速探测复合型结点探测系统，这种大面积快速探测复合型结点探测系统能够快速完成大面积半导体元器件及金属腐朽结点的探测。采用的技术方案如下：

一种大面积快速探测复合型结点探测系统，其特征在于：包括

探测主机，产生和发射高频2.4G微波信号，接收和处理高频4.8G/7.2G微波信号并且将探测信号进行显示；

阵列式机械装置，安装多个探测主机；

控制单元，供电并对每个探测主机进行控制。

较优的方案，所述探测主机包括

发射单元，产生和发射高频2.4G微波信号；

接收单元，接收和处理高频4.8G/7.2G微波信号并且将探测信号进行显示。

更优的方案，所述发射单元包括锁相环、滤波器、放大器、衰减器、初级功率放大、末级功率放大、隔离器、发射天线，锁相环产生震荡信号，依次经过滤波器进行滤波，进入放大器放大，再进入带宽衰减器进行滤波，接着进入功率放大级，然后进入末级放大器，再送入隔离器进行信号隔离输出，接着进入后级滤波器滤波，最后通过发送天线将2.4G载波信号发射到空间中。

更优的方案，所述接收单元包括接收天线、高通滤波、低噪声放大器、功率分配器、12/3才谐波带通滤波、混频器、带通滤波器、放大器、带通滤波器、初级检波、末级检波、数控模块，天线接收2次和3次信号，信号的频点在4.8G和7.2G，接收的信号先进入高通滤波，再进入低噪声放大器放大，然后进入功率分配器分为2次信号和3次信号；其中，2次信号先进入2次谐波带通滤波器滤波，再进入第一混频器混频，然后进入第一带通滤波器滤除掉4.8G和7.2G以外的信号，接着进入第一放大器放大，然后进入第二带通滤波器滤波，接着进入第一初级检波器检波，然后进入第一末级检波器检波，最后进入第一数字控制模块，将2次探测信号进行提示；3次信号进入3次谐波带通滤波器滤波，再进入第二混频器混频，然后进入第三带通滤波器滤除掉4.8G和7.2G以外的信号，接着进入第二放大器放大，然后进入第四带通滤波器滤波，接着进入第二初级检波器检波，然后进入第二末级检波器检波，最后进入第二数字控制模块，将3次探测信号进行提示。