[发明专利]一种改善HDIL阵列感应测井仪测量曲线质量的方法有效
申请号: | 202010054508.5 | 申请日: | 2020-01-17 |
公开(公告)号: | CN111255436B | 公开(公告)日: | 2023-07-28 |
发明(设计)人: | 李可赛;高杰;邓虎成 | 申请(专利权)人: | 成都理工大学 |
主分类号: | E21B47/00 | 分类号: | E21B47/00;G06Q50/02 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 龚燮英 |
地址: | 610051 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 改善 hdil 阵列 感应 测井 测量 曲线 质量 方法 | ||
1.一种改善HDIL阵列感应测井仪测量曲线质量的方法,其特征在于:包括如下步骤:
S100、数据质量改善:采用单点异常改善或多点异常改善方法对测井曲线数据进行改善;单点异常的改善方法采用两点平均;多点异常的改善方法通过两端最近正常数据间的关系来确定;
S200、异常数据剔除:测井曲线多点负值改善过程中,判断校正后的数值是否大于零,若大于零,则正常赋值,若小于零,取最小电导率数值;
对测井数据异常处理步骤包括:
S201、确定异常或负值起始点;
S202、确定异常点或负值区间;利用异常点判别方法逐点判别第一个异常或负值后的数据是否异常或负值:对于异常,找到两个正常点的第一点作为异常区间的终止点;对于负值,找连续三个正数并判断是否异常,如异常,则继续,直至出现正常数据,正常数据的第一个数据作为负值区间的结束点;
S203、用负值处理技术处理负值区间数据的第一个数据;
S204、用异常处理技术处理异常区间数据的第一个数据;
S205、输出处理数据,从第一步开始,重新寻找下一个异常或负值区间进行处理,直到处理完所有测井数据;
S300、分辨率匹配:采用信息因子判别法控制分辨率匹配曲线的乱序与虚假信息;
分辨率匹配的具体步骤包括:
S301、计算不同探测深度曲线间的差值信息;
S302、计算各差值信息的过校正因子;
S303、计算要匹配的信息因子γ,当计算出的信息因子小于噪声分界因子γth时,加到信号中去;当γ大于γth时,信息成为噪声,舍去,
其中:信息因子γ为
过校正因子α为:
SL为低分辨率曲线信号,SHL为高分辨率信号SH减去差值信息Δinf后变为低分辨率的高分辨率信号;
γth为用户调整参数,且γth<1;
S400、分辨率曲线输出:测量曲线数据处理完成后,输出分辨率曲线。
2.根据权利要求1所述的改善HDIL阵列感应测井仪测量曲线质量的方法,其特征在于:步骤S100中,设连续五点数据为x1、x2、x3、x4、x5,其中,前两点和后两点为正常数据,第三点x3为要改善的异常数据,则第三点的新值为
3.根据权利要求1所述的改善HDIL阵列感应测井仪测量曲线质量的方法,其特征在于:步骤S100中,设有连续多点异常数据,xi为左端正常数据,xj为右端正常数据,多点异常数据位于xi和xj之间,则靠近左端的新数据为
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