[发明专利]一种X射线探测器的质量检测装置

权利要求书

1.一种X射线探测器的质量检测装置，包括抗击打检测模块(1)和抗摔检测模块(2)，其特征在于，所述抗摔检测模块(2)置于抗击打检测模块(1)的一端；

所述抗击打检测模块(1)包括底座(11)，所述底座(11)上设有传送带(12)，所述底座(11)的一侧设有第一支撑架(13)，所述第一支撑架(13)上设有第一电机(14)，所述第一电机(14)的输出端连通底座(11)并与传送带(12)转动连接；

所述底座(11)的两端设有第一立柱(19)，两个所述第一立柱(19)之间设有第一转动杆(110)，所述第一转动杆(110)的一端贯穿一个所述第一立柱(19)，所述第一转动杆(110)上设有第一斜齿轮(111)；

被所述第一转动杆(110)贯穿的第一立柱(19)的一侧设有第三支撑架(114)，所述第三支撑架(114)上设有第二电机(113)，所述第二电机(113)与第一转动杆(110)通过皮带(112)转动连接；

所述底座(11)的两端设有第二立柱(117)，所述第二立柱(117)上设有第二转动杆(118)，所述第二转动杆(118)的一端设有第二斜齿轮(119)；

所述抗摔检测模块(2)包括第一滑槽(21)，所述第一滑槽(21)内设有第一丝杠(22)和第一基座(23)，所述第一丝杠(22)贯穿第一基座(23)并与第一基座(23)螺纹配合；

所述第一滑槽(21)的一端设有第一底板(24)，所述第一底板(24)上设有第三电机(25)，所述第三电机(25)的输出端连通第一滑槽(21)并与第一丝杠(22)固定连接；

所述第一基座(23)上设有第二基座(26)和第四电机(27)，所述第二基座(26)上设有第二丝杠(29)，所述第二丝杠(29)贯穿横杆(210)并与横杆(210)螺纹配合。

2.根据权利要求1所述的一种X射线探测器的质量检测装置，其特征在于，所述传送带(12)的上方设有两个第二支撑架(15)，所述第二支撑架(15)之间设有梯形架(16)，所述梯形架(16)上设有第一气缸(17)，所述第一气缸(17)的输出端连通梯形架(16)且第一气缸(17)的输出端上设有捶打块(18)。

3.根据权利要求1所述的一种X射线探测器的质量检测装置，其特征在于，所述底座(11)上设有第二气缸(115)，所述第二气缸(115)的输出端上设有支撑板(116)。

4.根据权利要求1所述的一种X射线探测器的质量检测装置，其特征在于，所述第二转动杆(118)上设有捶打臂(120)。

5.根据权利要求1所述的一种X射线探测器的质量检测装置，其特征在于，所述第二基座(26)上设有丝杠保护壳(28)，所述第二丝杠(29)置于丝杠保护壳(28)内。

6.根据权利要求1所述的一种X射线探测器的质量检测装置，其特征在于，所述横杆(210)的两端设有支撑杆(211)。

7.根据权利要求1所述的一种X射线探测器的质量检测装置，其特征在于，所述第一滑槽(21)置于底座(11)的两端，所述底座(11)的另一端设有第二滑槽(212)，所述第二滑槽(212)内设有第三丝杠(213)，所述第三丝杠(213)贯穿竖杆(214)并与竖杆(214)螺纹配合。

8.根据权利要求7所述的一种X射线探测器的质量检测装置，其特征在于，所述第二滑槽(212)的一端设有第二底板(216)，所述第二底板(216)上设有第五电机(215)，所述第五电机(215)的输出端连通第二滑槽(212)并与第三丝杠(213)固定连接。

9.根据权利要求7所述的一种X射线探测器的质量检测装置，其特征在于，所述竖杆(214)的上端与连杆(217)固定连接，所述连杆(217)的一端与接盘(218)固定连接。