[发明专利]一种宽波段自供电锑薄膜光电探测器在审
申请号: | 202010059503.1 | 申请日: | 2020-01-19 |
公开(公告)号: | CN111244207A | 公开(公告)日: | 2020-06-05 |
发明(设计)人: | 唐涵;陆冬林;罗斯玮;钟建新 | 申请(专利权)人: | 湘潭大学 |
主分类号: | H01L31/0392 | 分类号: | H01L31/0392;H01L31/032;H01L31/0224;H01L31/09;H01L31/18 |
代理公司: | 长沙市融智专利事务所(普通合伙) 43114 | 代理人: | 赵进;颜勇 |
地址: | 411105 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 波段 供电 薄膜 光电 探测器 | ||
1.一种宽波段自供电锑薄膜光电探测器,其特征在于:由锑薄膜和银电极复合而成,所述锑薄膜是通过Sb粉气相沉积于衬底制得。
2.根据权利要求1所述的宽波段自供电锑薄膜光电探测器,其特征在于:所述锑薄膜的具体制备过程为:将Sb粉置于加热区,将石英管内气压抽至10pa,并使用氩氢混合气体洗气15min~20min,保持气体流速为80~100sccm,让所述加热区温度以20~25℃/min由室温上升至440℃,将衬底放置于距离加热区中心14~15cm处,使得气化后的Sb粉沉积于衬底上得到所述锑薄膜。
3.根据权利要求2所述的宽波段自供电锑薄膜光电探测器,其特征在于:所述锑薄膜的厚度为10~20nm。
4.根据权利要求1所述的宽波段自供电锑薄膜光电探测器,其特征在于:所述Sb粉的纯度不低于99.99%。
5.根据权利要求1所述的宽波段自供电锑薄膜光电探测器,其特征在于:所述衬底为SiO2/Si刚性衬底或PI柔性衬底。
6.根据权利要求5所述的宽波段自供电锑薄膜光电探测器,其特征在于:所述SiO2/Si刚性衬底先采用食人鱼溶液进行浸泡并且超声5h,之后使用超纯水清洁,高温干燥后使用。
7.根据权利要求5所述的宽波段自供电锑薄膜光电探测器,其特征在于:所述PI柔性衬底先使用无水乙醇浸泡并超声2h,之后经超纯水清洗后干燥使用。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的