[发明专利]一种检测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：

获取二维图像；

基于获取的二维图像，构建所述二维图像中的至少一个待检测对象分别对应的结构化多边形；一个待检测对象的结构化多边形表征该待检测对象的三维边界框在所述二维图像上的投影；

针对每个所述待检测对象，基于该待检测对象的高度、以及该待检测对象对应的所述结构化多边形中的竖边的高度信息，计算所述结构化多边形中顶点的深度信息；

基于计算得到的所述结构化多边形中顶点的深度信息，以及所述结构化多边形的顶点在所述二维图像中的二维坐标信息，确定所述待检测对象对应的三维空间信息，所述待检测对象的三维空间信息与所述待检测对象的三维边界框相关。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，确定所述待检测对象对应的三维空间信息之后，所述检测方法还包括：

基于所述二维图像以及所述二维图像对应的深度图，生成所述二维图像对应的鸟瞰图；

基于所述鸟瞰图调整每个所述待检测对象的三维空间信息，得到所述待检测对象对应的调整后的三维空间信息。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述基于所述二维图像以及所述二维图像对应的深度图，生成所述二维图像对应的鸟瞰图，包括：

基于所述二维图像以及所述二维图像对应的深度图，得到所述二维图像对应的点云数据，其中，所述点云数据中包括所述二维图像所对应的真实空间中多个空间点的三维坐标值；

基于所述点云数据中每个空间点的三维坐标值，生成所述二维图像对应的鸟瞰图。

4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述基于所述点云数据中每个空间点的三维坐标值，生成所述二维图像对应的鸟瞰图，包括：

针对每个所述空间点，将该空间点的横轴坐标值确定为所述鸟瞰图中与该空间点对应的特征点的横轴坐标值，将该空间点的纵轴坐标值确定为所述鸟瞰图中与该空间点对应的特征点的像素通道值，将该空间点的竖轴坐标值确定为所述鸟瞰图中与该空间点对应的特征点的纵轴坐标值。

5.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述基于所述鸟瞰图调整每个所述待检测对象的三维空间信息，得到所述待检测对象对应的调整后的三维空间信息，包括：

提取所述鸟瞰图对应的第一特征数据；

基于所述每个所述待检测对象对应的所述三维空间信息，以及第一预设尺寸信息，在所述鸟瞰图对应的第一特征数据中，选取每个所述待检测对象对应的第二特征数据；

基于每个所述待检测对象对应的所述第二特征数据，确定所述待检测对象对应的所述调整后的三维空间信息。

6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述基于获取的二维图像，构建所述二维图像中的至少一个待检测对象分别对应的结构化多边形，包括：

基于所述二维图像，确定每个所述待检测对象对应的结构化多边形的属性信息；其中，所述属性信息包括以下至少一种：顶点信息、表面信息、以及轮廓线信息；

基于每个所述待检测对象对应的结构化多边形的属性信息，构建所述结构化多边形。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述基于所述二维图像，确定每个所述待检测对象对应的结构化多边形的属性信息，包括：

对所述二维图像进行对象检测，得到所述二维图像中的至少一个对象区域，其中每个对象区域包含一个所述待检测对象；

基于每个待检测对象对应的对象区域以及第二预设尺寸信息，从所述二维图像中，截取每个待检测对象对应的目标图像；所述第二预设尺寸大于或等于每个待检测对象的对象区域的尺寸；

对每个所述待检测对象对应的目标图像进行特征提取，得到每个所述待检测对象对应的结构化多边形的属性信息。