[发明专利]一种基于太赫兹近场光谱的细胞检测方法

权利要求书

1.一种基于太赫兹近场光谱的细胞检测方法，其特征在于，该方法具体包括以下步骤：

S1：选择近场探测系统；

S2：选择探测模式；

S3：已知细胞样品测试；

S4：建立细胞数据库；

S5：处理待测样品；

S6：待测样品测试；

S7：分析数据，识别细胞状态。

2.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹近场光谱的细胞检测方法，其特征在于，步骤S1中，所述近场探测系统是基于光电导微探针、波导或孔径光阑的直接近场探测系统以及基于扫描探针显微镜与太赫兹联用的间接近场高分辨探测系统。

3.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹近场光谱的细胞检测方法，其特征在于，步骤S2中，所述探测模式包括：透射式、反射式或散射式近场探测；其中，透射式近场探测模式是太赫兹发射端与探测端位于样品异侧；反射式近场探测模式为太赫兹发射端与探测端位于样品同侧；散射式近场探测模式是待测样品与探针尖端产生偶极子效应，将其看作一个整体，接收到的信号为太赫兹与整体作用之后的散射信号。

4.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹近场光谱的细胞检测方法，其特征在于，步骤S3中，所述已知细胞样品包括正常细胞和病变细胞；其中，病变细胞是正常细胞发生病理改变后的细胞。

5.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹近场光谱的细胞检测方法，其特征在于，步骤S4中，所述建立细胞数据库具体包括：利用太赫兹近场光谱系统收集正常与病变细胞的太赫兹光谱，并建立相应的数据库。

6.根据权利要求4所述的一种基于太赫兹近场光谱的细胞检测方法，其特征在于，步骤S5中，处理待测样品具体包括：在显微镜下用微滴管吸取几个需要检测的细胞，转移至太赫兹基片上，将滴有待测细胞的太赫兹基片置于太赫兹近场时域光谱系统的样品台上。

7.根据权利要求5所述的一种基于太赫兹近场光谱的细胞检测方法，其特征在于，步骤S7中，所述数据分析具体包括：通过对比待测细胞与正常细胞的太赫兹波谱差异，判断待测细胞是否为病变细胞；然后对待测细胞的太赫兹波谱进行分析，计算吸收率、折射率或反射率，与正常细胞的太赫兹波谱的介电参数进行对比，分析得出待测细胞所处的生理状态。

8.根据权利要求7所述的一种基于太赫兹近场光谱的细胞检测方法，其特征在于，待测样品的太赫兹波谱介电参数计算公式为：

其中，n(ω)为样品折射率，ΔΦ为透过样品信号与参考信号相位差，c为光速，ω为光谱角频率，d为细胞高度，p(ω)为透过样品信号与参考信号的频率谱比值，α(ω)为细胞样品的太赫兹吸收系数，r(ω)为样品反射信号E₂与参考信号E₁的频率谱比值。