[发明专利]一种GPU内存压力测试方法及装置

权利要求书

1.一种GPU内存压力测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1，产生并发测试进程总数numT；

S2，先运行一个压力测试进程，待测试完成后，再并行运行两个压力测试进程，以此类推，直至并行运行numT个压力测试进程；每个压力测试进程以一预设加压数值进行测试。

2.根据权利要求1所述的GPU内存压力测试方法，其特征在于，步骤S1具体为：

S11，以一定加压数值进行基础压力测试；

S12，获取系统后台进行压力测试的malloc进程总数num；

S13，根据所获取malloc进程总数num产生并发进程总数numT。

3.根据权利要求2所述的GPU内存压力测试方法，其特征在于，所述步骤S11具体为：

S11-1，产生一个随机数n；

S11-2，将随机数n传递给压力测试工具；

S11-3，压力测试工具GPU内存加压到n％进行基础压力测试。

4.根据权利要求2或3所述的GPU内存压力测试方法，其特征在于，步骤S13所产生并发进程总数numT为60减去malloc进程总数num。

5.根据权利要求2或3所述的GPU内存压力测试方法，其特征在于，步骤S2中并行运行numT个压力测试进程完成后，返回步骤S1，重复步骤S1和S2。

6.根据权利要求5所述的GPU内存压力测试方法，其特征在于，步骤S2中，各个压力测试进程的预设加压数值相同。

7.一种GPU内存压力测试装置，其特征在于，包括：

并发进程数产生模块，产生并发测试进行总数numT；

多进程并发测试模块，先运行一个压力测试进程，待测试完成后，再并行运行两个压力测试进程，以此类推，直至并行运行num个压力测试进程；每个压力测试进程以一预设加压数值进行测试。

8.根据权利要求7所述的GPU内存压力测试装置，其特征在于，所述并发进程数产生模块，包括：

基础压力测试子模块，以一定加压数值进行基础压力测试；

malloc进程总数获取子模块，获取系统后台进行压力测试的malloc进程总数num；

并发进程数计算子模块，根据所获取malloc进程总数num产生并发进程总数num。

9.根据权利要求8所述的GPU内存测试装置，其特征在于，所述基础压力测试子模块，包括:

随机数产生单元，产生一个随机数n；

随机数传递单元，将随机数n传递给压力测试工具；

基础压力测试触发单元，压力测试工具GPU内存加压到n％进行基础压力测试。

10.根据权利要求7、8或9所述的GPU内存测试装置，其特征在于，多进程并发测试模块运行完后跳转回并发进程数产生模块。