[发明专利]一种FPGA芯片、基于其发射机的性能测试方法及系统

说明书

本发明公开了一种数字发射机的性能测试方法，其中该方法包括通过上位机生成的控制信令对FPGA芯片和待测发射机进行参数配置；将FPGA芯片生成的多个频率不同的正弦波信号加和，并且对加和后的数据进行截位；将截位后的数据进行功率调节；将功率调节后的数据进行跨时钟域处理；将跨时钟域处理后的数据进行数模转换；以及将待测发射机中数模转换后的模拟信号进行增益控制并且输出到频谱仪。本发明还公开了一种数字发射机的性能测试系统。该数字发射机的性能测试系统及其测试方法能够实现多载波数目可调节、载波频点可配置以及增益控制可改变的特性。

技术领域

本发明涉及发射机性能测试领域，特别涉及一种FPGA芯片、基于FPGA芯片的数字发射机的性能测试方法及其测试系统。

背景技术

随着数字信号处理技术和高速数模转换技术的快速发展，数字发射机得到了跨越式的发展。数字发射机在可靠性、抗干扰能力方面相对于传统的发射机有很大优势，数字发射机尤其是数模转换电路的性能好坏直接影响卫星通信、移动通信、广播、雷达等通信设备的性能。

在通信系统中，当载波信号通过数模转换电路和增益控制时，会产生功率损失和信号失真，所以对数字发射机进行性能测试非常重要。

现有的数字发射机性能测试方法可以分为：1.硬件检测，2.单载波测试。

方法1难以测试出数字发射机芯片的性能，只能对外围电路的优劣进行测试；且在测试过程中需对每个发射机进行测试，工作量大，效率低下。

方法2可以对数字发射机主要芯片性能进行测试，但测试不够全面，难以全面反映整个发射机的性能优劣。

因此，急需一种能够克服上述缺陷的数字发射机的性能测试方法及其测试系统。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种基于FPGA芯片的数字发射机的性能测试方法，能够实现多载波数目可调节、载波频点可配置、增益控制可改变的特性。

本发明还提出一种用于上述基于FPGA芯片的数字发射机的性能测试方法的测试系统。

本发明还提一种FPGA芯片。

根据本发明的第一方面实施例的基于FPGA芯片的数字发射机性能测试方法，该方法包括以下步骤：

通过上位机生成的控制信令对FPGA芯片和待测发射机进行参数配置；

将FPGA芯片生成的多个频率不同的正弦波信号加和，并且对加和后的数据进行截位；

将截位后的数据进行功率调节；

将功率调节后的数据进行跨时钟域处理；

将跨时钟域处理后的数据进行数模转换；以及

将待测发射机中数模转换后的模拟信号进行增益控制并且输出到频谱仪。

根据本发明实施例的数字发射机的性能测试方法，能够实现多载波数目可调节、载波频点可配置、增益控制可改变的特性，并且可以应用到不同的数字发射机系统的测试场景中，有效提高了测试效率。

根据本发明的一些实施例，通过上位机生成的控制信令对FPGA芯片的逻辑模块和待测发射机的模块进行参数配置包括：

FPGA芯片的Microblaze模块通过UDP协议接收上位机发送的控制信令；

Microblaze模块与FPGA芯片的系统配置模块通信以将控制信令中配置数据传输到系统配置模块；

系统配置模块对配置数据进行解析并且将解析后的参数配置到FPGA芯片的多载波产生模块、功率调节模块以及待测发射机的增益控制模块。