[发明专利]一种星载SAR成像处理方法有效

专利信息
申请号: 202010061990.5 申请日: 2020-01-19
公开(公告)号: CN111175749B 公开(公告)日: 2022-02-25
发明(设计)人: 王晓蓓;刘亚波;刘霖;行坤;喻忠军 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90;G01S7/41
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴梦圆
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 sar 成像 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种星载合成孔径雷达成像处理方法,其特征在于,该方法包括:

分析星载合成孔径雷达成像传统双曲线斜距模型和解析推导适用边界条件,完成算法选型;

去除原始回波信号中距离向冗余采样数据,通过对斜距模型误差和高次相位误差的补偿实现星载SAR高分辨大斜视数据处理,得到完全聚焦图像;

其中,所述分析星载合成孔径雷达成像传统双曲线斜距模型和解析推导适用边界条件,完成算法选型,其特征在于,包括:

确定斜距模型引入的相位误差Δψ;

将原始回波信号转换到二维频域确定处理边界条件,所述将原始回波信号转换到二维频域确定处理边界条件,确定的处理边界条件为:

Kr(Z+M)<<1

其中,Kr为不考虑斜视影响时的距离向调频率,Z和M为中间变量,c表示光速,R0表示最短斜距,fη表示多普勒频率,f0表示载频,Vr表示等效速度,D表示徙动因子,fηc表示多普勒中心频率;

其中,所述去除原始回波信号中距离向冗余采样数据,通过对斜距模型误差和高次相位误差的补偿实现星载SAR高分辨大斜视数据处理,得到完全聚焦图像,其特征在于,包括:

计算双曲线形式的距离模型误差并在回波域进行补偿得到补偿后的二维时域第一回波数据;

将第一回波数据变换到距离频域,校正斜视角引入的距离走动,然后变换到二维时域截取距离向有效数据,最终去除滑聚模式方位向频谱混叠后得到二维时域第二回波数据;

将第二回波数据变换到二维频域并与参考相位相乘,将距离向分块处理,根据相位误差阀值确定距离向分块大小,完成非参考距离处的残余相位补偿,得到完全聚焦图像;

所述根据相位误差阀值确定距离向分块大小采用以下公式进行:

其中,Δψsrc,R为残余相位误差,ΔR为到参考距离Rref的距离,Vr为等效速度,Ts为合成孔径时间。

2.根据权利要求1所述的星载合成孔径雷达成像处理方法,其特征在于,所述相位误差Δψ:

Δψ=4πΔR/λ

其中,ΔR表示斜距模型引入的最大距离误差,λ表示波长,当Δψ<π/4时斜距模型适用。

3.根据权利要求1所述的星载合成孔径雷达成像处理方法,其特征在于,所述去除原始回波信号中距离向冗余采样数据是通过距离移位校正距离走动量实现,距离位移函数为:

其中,fτ为距离向频率,η为方位向采样时刻,c为光速,Vr为等效速度,θsq为斜视角。

4.根据权利要求1所述的星载合成孔径雷达成像处理方法,其特征在于,所述去除滑聚模式方位向频谱混叠采用Deramp变标操作。

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