[发明专利]一种硬件在环测试系统及方法

说明书

本申请公开一种硬件在环测试系统及方法，通过在上位机中的预设软件上运行硬件在环整车模型，产生测试信号；上位机中的硬件在环整车模型配置模块将测试信号通过功能模型接口标准通信传输给上位机中的测试台架控制模块；再通过以太网将所述测试信号传输给测试台架；测试台架将测试信号发送给整车控制器；整车控制器根据所述测试信号生成控制信号，并发送给测试台架；测试台架将控制信号传输给上位机中的测试台架控制模块；上位机中的测试台架控制模块将控制信号通过功能模型接口标准通信传输给上位机中的硬件在环整车模型配置模块，形成闭环，可以解决硬件在环整车模型编译下载到测试台架中的实时处理器时硬件在环整车模型太大引起跑飞的问题。

技术领域

本申请涉及一种硬件在环测试系统及方法，更具体的涉及一种基于测试台架的整车控制器硬件在环测试系统及方法。

背景技术

HIL(Hardware-in-the-Loop，硬件在环)测试的基本原理是通过HIL设备模拟整车控制器所需的传感器信号、通信信号，同时采集整车控制器发出的控制信号，整车控制器与运行在HIL设备中的整车模型构成闭环，由此实现整车控制器的硬件在环测试。当今，HIL硬件在环测试已成为ECU(Electronic Control Unit，电子控制单元)开发流程中非常重要的一环，减少了实车路试的次数，缩短开发时间和降低成本的同时还提高了ECU的软件质量，降低了整车厂的风险。

现有的HIL测试方法是将HIL整车模型编译下载到HIL处理器中运行，并通过IO(Input/Output，输入/输出)板卡与挂在HIL台架上的整车控制器形成闭环。而测试台架主要用于网络测试，测试台架上搭载的处理器板卡性能较低，当HIL整车模型较大时，HIL整车模型编译生成的DLL格式的文件运行在VT 处理器板卡中会出现跑飞现象，不能满足HIL整车模型的运行条件，无法提供整车控制器的功能测试。

发明内容

为了克服现有技术存在的缺点与不足，本申请公开一种硬件在环测试系统及方法，能够解决测试台架的处理器板卡配置过低引起的HIL整车模型无法进行HIL测试的问题。

为了达到上述申请的目的，本申请提供了一种硬件在环测试系统，该系统包括：

上位机、测试台架以及整车控制器；

所述上位机与所述测试台架通过以太网连接；

所述测试台架与所述整车控制器通信连接；

所述上位机包括硬件在环整车模型配置模块以及测试台架控制模块；

所述硬件在环整车模型配置模块与所述测试台架控制模块通过功能模型接口标准通信连接。

另一方面，本申请还提供一种硬件在环测试方法，所述方法应用于上述硬件在环测试系统，所述方法包括：

在上位机中的预设软件上运行硬件在环整车模型，产生测试信号；

所述上位机中的硬件在环整车模型配置模块将测试信号通过功能模型接口标准通信传输给所述上位机中的测试台架控制模块；

所述上位机中的所述测试台架控制模块通过以太网将所述测试信号传输给测试台架；

所述测试台架将所述测试信号发送给整车控制器；

所述整车控制器根据所述测试信号生成控制信号，并将所述控制信号发送给所述测试台架；

所述测试台架将所述控制信号传输给所述上位机中的所述测试台架控制模块；

所述上位机中的所述测试台架控制模块将所述控制信号通过功能模型接口标准通信传输给所述上位机中的所述硬件在环整车模型配置模块。

实施本申请，具有如下有益效果：