[发明专利]磁单元、位置检测装置和磁部件在审
申请号: | 202010064054.X | 申请日: | 2020-01-20 |
公开(公告)号: | CN111486776A | 公开(公告)日: | 2020-08-04 |
发明(设计)人: | 平野裕幸;冈祯一郎;福冈诚二 | 申请(专利权)人: | TDK株式会社 |
主分类号: | G01B7/00 | 分类号: | G01B7/00;G01D5/12 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 单元 位置 检测 装置 部件 | ||
1.一种磁单元,具备:
磁部件;以及
保持部件,在轴向上延伸且保持所述磁部件,
所述磁部件包括:
磁体,在所述轴向上延伸,与所述轴向正交的截面的面积在所述轴向上实质上一定,并且在与所述轴向正交的径向上具有第一最大外径;以及
第一磁轭,在所述轴向上与所述磁体的第一端部邻接配置,并且在所述径向上具有大于所述第一最大外径的第二最大外径。
2.根据权利要求1所述的磁单元,其中,
所述磁部件进一步包括第二磁轭,
所述第二磁轭从所述磁体看在所述第一磁轭的相反侧与所述磁体的第二端部邻接配置,并且在所述径向上具有大于所述第一最大外径的第三最大外径。
3.根据权利要求2所述的磁单元,其中,
所述磁体、所述第一磁轭和所述第二磁轭各自具有以所述轴向为高度方向的圆柱状或圆筒状的外观。
4.根据权利要求2或权利要求3所述的磁单元,其中,
所述磁体的所述轴向的第一厚度比所述第一磁轭的所述轴向的第二厚度和所述第二磁轭的所述轴向的第三厚度双方厚。
5.一种位置检测装置,具备:
磁单元;以及
传感器,检出伴随所述磁单元沿着轴向的移动而变化的磁场,
所述磁单元具有:
磁部件;以及
保持部件,在所述轴向上延伸且保持所述磁部件,
所述磁部件包括:
磁体,在所述轴向上延伸,与所述轴向正交的截面的面积在所述轴向上实质上一定,并且在与所述轴向正交的径向上具有第一最大外径;以及
第一磁轭,在所述轴向上与所述磁体邻接配置,并且在所述径向上具有大于所述第一最大外径的第二最大外径。
6.根据权利要求5所述的位置检测装置,其中,
所述传感器检出所述磁场的方向和所述磁场的强度中的至少一个。
7.根据权利要求5或权利要求6所述的位置检测装置,其中,
进一步具备运算部,
所述运算部根据所述传感器检出的所述磁场,检测所述磁单元相对于所述传感器的位置。
8.一种磁部件,包括:
磁体,在轴向上延伸,与所述轴向正交的截面的面积在所述轴向上实质上一定,并且在与所述轴向正交的径向上具有第一最大外径;以及
磁轭,在所述轴向上与所述磁体邻接配置,并且在所述径向上具有大于所述第一最大外径的第二最大外径。
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