[发明专利]一种同轴激光器TO-CAN

说明书

本申请公开一种同轴激光器TO‑CAN，包括：衬底，所述衬底的一侧表面设有管脚；管帽，所述管帽位于所述衬底的另一侧，与所述衬底的另一侧表面固定连接，所述管帽与所述衬底形成容置空间；透镜，所述透镜嵌设在所述管帽远离所述衬底的端面上，所述透镜的一侧表面上设有抗反射结构，所述抗反射结构的几何中心位于所述透镜的中轴线上；半导体激光器芯片组件，所述半导体激光器芯片组件位于所述容置空间内，所述半导体激光器芯片组件与所述衬底的另一侧表面固定连接。以解决，由于现有半导体激光器在使用过程中存在反向光自混合干涉效应而影响光电检测系统的稳定性和测量精度等问题。

技术领域

本申请涉及一种TO-CAN(transistor-outline can package，晶体管引线式外壳封装)，具体的涉及一种同轴激光器TO-CAN。

背景技术

半导体激光器具有体积小、光电转换效率高、工作寿命长和高速直接调制等优点，是通信、光泵浦激光器、光信息存储等的重要光源，也是高效单色光源光电子系统中的核心器件,在工业生产和军事领域中被广泛应用。

在半导体激光器作为光源使用的过程中，部分出射激光束会被外部物体反射或散射，形成反向光，当反向光重新射回到激光谐振腔内时，反向光会与激光谐振腔内的振荡光束发生干涉。由于反向光携载外部物体信息,因此它与振荡光束相混合后,会调制激光器的输出功率，形成激光器的自混合干涉效应。然而,在利用红外激光光谱吸收原理来测量气体成分和浓度的光电技术应用中，激光器自混合干涉效应，会导致光路系统间产生自耦合效应，使激光器运行不稳定并产生系统反射噪声，这种系统反射噪声会给探测信号带来很强的本底噪音，极大的影响测量精度和测量系统的稳定性。另外，在光纤通信领域，这种系统反射噪声会使光纤链路上的光放大器发生变化并产生自激励，造成整个光纤通信系统无法正常工作。

由此可见，如何解决反向光带来的上述问题，成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本申请提供一种同轴激光器TO-CAN，以解决，由于现有半导体激光器在使用过程中存在反向光自混合干涉效应而影响光电检测系统的稳定性和测量精度，或者在光纤通讯领域导致光纤通讯系统无法正常工作等问题。

本申请提供一种同轴激光器TO-CAN，包括：

衬底，所述衬底的一侧表面设有管脚；

管帽，所述管帽位于所述衬底的另一侧，与所述衬底的另一侧表面固定连接，所述管帽与所述衬底形成容置空间；

透镜，所述透镜嵌设在所述管帽远离所述衬底的端面上，所述透镜的一侧表面上设有抗反射结构，所述抗反射结构的几何中心位于所述透镜的中轴线上；

半导体激光器芯片组件，所述半导体激光器芯片组件位于所述容置空间内，所述半导体激光器芯片组件与所述衬底的另一侧表面固定连接。

由以上技术方案可知，本申请提供的一种同轴激光器TO-CAN，包括：衬底，所述衬底的一侧表面设有管脚；管帽，所述管帽位于所述衬底的另一侧，与所述衬底的另一侧表面固定连接，所述管帽与所述衬底形成容置空间；透镜，所述透镜嵌设在所述管帽远离所述衬底的端面上，所述透镜的一侧表面上设有抗反射结构，所述抗反射结构的几何中心位于所述透镜的中轴线上；半导体激光器芯片组件，所述半导体激光器芯片组件位于所述容置空间内，所述半导体激光器芯片组件与所述衬底的另一侧表面固定连接。通过本申请提供的一种同轴激光器TO-CAN，可以解决，由于现有半导体激光器在使用过程中存在反向光自混合干涉效应而影响光电检测系统的稳定性和测量精度，或者在光纤通讯领域导致光纤通讯系统无法正常工作等问题。

附图说明

为了更清楚地说明本申请的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请提供的一种同轴激光器TO-CAN的结构示意图；