[发明专利]快闪存储器的数据合并方法、控制电路单元与存储装置有效

专利信息
申请号: 202010070048.5 申请日: 2020-01-21
公开(公告)号: CN111258505B 公开(公告)日: 2023-09-26
发明(设计)人: 朱启傲;洪婉君;张静;王鑫;程旭辉 申请(专利权)人: 合肥兆芯电子有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 罗英;臧建明
地址: 230088 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 闪存 数据 合并 方法 控制电路 单元 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种快闪存储器的数据合并方法,用于可复写式非易失性存储器模块,所述可复写式非易失性存储器模块包括多个存储器子模块,每一所述多个存储器子模块包括多个实体抹除单元,其特征在于,所述方法包括:

根据所述多个实体抹除单元中的至少一第一实体抹除单元的有效数据量、所述第一实体抹除单元中的有效数据的冷热程度以及每一所述多个存储器子模块的有效数据量,产生每一所述第一实体抹除单元的参考数值;

将所述第一实体抹除单元中所述参考数值小于门坎值的至少一第二实体抹除单元识别为至少一来源实体抹除单元;

复制所述至少一来源实体抹除单元中的有效数据至从所述多个实体抹除单元中选择的至少一目的实体抹除单元以执行一有效数据合并操作;

其中,根据所述第一实体抹除单元的有效数据量、所述第一实体抹除单元中的有效数据的冷热程度以及每一所述多个存储器子模块的有效数据量,产生每一所述第一实体抹除单元的所述参考数值的步骤包括:

将所述第一实体抹除单元中的第三实体抹除单元的有效数据量乘上第一权重以获得第一数值;

将所述第三实体抹除单元中的有效数据的冷热程度乘上第二权重以获得第二数值;

将每一所述多个存储器子模块的有效数据量的总和乘上第三权重以获得第三数值;以及

将所述第一数值、所述第二数值以及所述第三数值的总和识别为所述第三实体抹除单元的所述参考数值,

其中,所述多个存储器子模块包括第一存储器子模块,所述多个实体抹除单元包括至少一其他来源实体抹除单元,所述方法还包括:

将所述其他来源实体抹除单元在所述第一存储器子模块中的有效数据量的总和加上所述第三实体抹除单元在所述第一存储器子模块中的有效数据量以获得第四数值,并将所述第四数值除以所述其他来源实体抹除单元的数量以获得所述第一存储器子模块的第一平均有效数据量;

将所述其他来源实体抹除单元的有效数据量的总和除以所述其他来源实体抹除单元的数量与所述多个存储器子模块的数量的乘积以获得所述多个存储器子模块的第二平均有效数据量;以及

将所述第一平均有效数据量与所述第二平均有效数据量的差值取平方作为所述所述第一存储器子模块的有效数据量。

2.根据权利要求1所述的快闪存储器的数据合并方法,其特征在于,所述其他来源实体抹除单元组成来源池,其中执行所述有效数据合并操作的步骤之前,所述方法还包括:

将所述来源实体抹除单元加入所述来源池中。

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