[发明专利]一种用于测量Si-PIN探测器有效面积的准直器及其使用方法

权利要求书

1.一种用于测量Si-PIN探测器有效面积的准直器，其特征在于，所述准直器包括：

AB两个部件，A部件位于射线源预设范围内，用于对光源发光区域进行限制；B部件用在探测器段，用于对射线进行准直和限光，并屏蔽其它方向的干扰射线；A部件为带有一个第一通光孔的金属板；B部件为带有N个准直管安装孔和N个探测器小腔的金属块，准直管安装孔与探测器小腔一一对应，准直管安装孔与其对应的探测器小腔连通，贯穿整个金属块，且准直管安装孔位于金属块的一面，探测器小腔贯穿到金属块的对面，N大于或等于1；B部件匹配有M个准直管，M大于或等于1；准直管中轴设有平行于柱体中轴的贯穿整个准直管的第二通光孔，第二通光孔用于准直；第二通光孔形状为圆柱形，第二通光孔位于准直管中心，至少有一个准直管的准直孔小于待测Si-PIN迎光面P型层或N型层大小。

2.根据权利要求1所述的用于测量Si-PIN探测器有效面积的准直器，其特征在于，A部件正面和背面外形为正方形或长方形，A部件的材料为铅，A部件的厚度大于或等于1厘米且小于或等于10厘米。

3.根据权利要求1所述的用于测量Si-PIN探测器有效面积的准直器，其特征在于，第一通光孔垂直贯穿A部件，第一通光孔的形状为圆形，第一通光孔位于A部件中心。

4.根据权利要求1所述的用于测量Si-PIN探测器有效面积的准直器，其特征在于，金属块外形为长方体，金属块材料为铅，金属块沿准直管方向的长度为两倍准直管长度；金属块垂直于准直管方向的长度与准直管长度相等。

5.根据权利要求1所述的用于测量Si-PIN探测器有效面积的准直器，其特征在于，准直管外形为柱体，准直管的形状为圆柱体，准直管的材料为钨，准直管的长度大于或等于1厘米且小于或等于10厘米。

6.根据权利要求1所述的用于测量Si-PIN探测器有效面积的准直器，其特征在于，准直管能够装配到B部件的准直管安装孔内，当N大于1时，不同的准直管安装孔之间呈一定角度，使得安装上准直管后能够同时对准光源或光源预设范围内A部件的第一通光孔。

7.一种权利要求1-6中任意一个所述的用于测量Si-PIN探测器有效面积的准直器的使用方法，其特征在于，所述方法包括：

将待测Si-PIN探测器放置于B部件的其中一个探测器小腔中，调整探测器位置使探测器中心在准直管安装孔的轴心沿线上，调整探测器方向使之与准直管轴心沿线对准；

将准直孔大于Si单晶片的准直管安装在准直管安装孔内，或者不安装准直管；调整A部件和B部件的位置，使得探测器、准直孔、A部件的通光孔和光源在一条直线上，在辐射源照射下进行第一次测量，记下Si-PIN探测器信号I₀；

将准直管换为准直孔小于Si-PIN探测器迎光面P型层或N型层的准直管，设该准直孔面积为S，再次确认A部件和B部件的位置，使得探测器、准直孔、A部件的通光孔和光源在一条直线上，在辐射源照射下进行第二次测量，记下Si-PIN探测器信号I₁；如果两次测量之间，光源重复性满足要求，则Si-PIN探测器有效面积为SI₀/I₁；如果光源重复性不满足要求，则在B部件的其中一个探测器腔内安装另一个Si-PIN探测器，对光源强度进行测量，对光源强度的变化进行修正。