[发明专利]一种病灶检测方法、装置、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202010071412.X 申请日: 2018-12-07
公开(公告)号: CN111292301A 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 黄锐;高云河 申请(专利权)人: 北京市商汤科技开发有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/73;G16H30/20;G16H50/20
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 100142 北京市海淀区北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 病灶 检测 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种病灶检测方法,其特征在于,包括:

获取包括多张采样切片的第一图像,所述第一图像为包括X轴维度、Y轴维度以及Z轴维度的三维图像;

对所述第一图像进行特征提取,生成包含病灶的特征和位置的第一特征图;所述第一特征图包括所述X轴维度、Y轴维度以及Z轴维度的三维特征;

将所述第一特征图所包含的特征进行降维处理,生成第二特征图;所述第二特征图包括所述X轴维度以及所述Y轴维度的二维特征;

对所述第二特征图进行检测,得到所述第二特征图中每一个病灶的位置以及所述位置对应的置信度。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取包括多张采样切片的第一图像,包括:

以第一采样间隔对获取到的患者的CT图像进行重采样,生成包括多张采样切片的第一图像。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述第一图像进行特征提取,生成包含病灶的特征和位置的第一特征图,包括:

通过第一神经网络对所述第一图像进行下采样,生成第三特征图;

通过所述第二神经网络的残差模块对所述第三特征图进行下采样,生成第四特征图;

通过所述第二神经网络的残差模块对所述第四特征图进行下采样,生成比所述第四特征图的分辨率小的第五特征图;

通过所述第二神经网络的DenseASPP模块对所述第五特征图中不同尺度的病灶的特征进行提取;

经过所述DenseASPP模块处理后,生成与所述第五特征图的分辨率大小相同的第五预设特征图;通过所述第二神经网络的反卷积层和所述残差模块对经过所述DenseASPP模块处理后的特征图进行上采样,生成与所述第四特征图的分辨率大小相同的第四预设特征图;或者,通过所述第二神经网络的反卷积层和残差模块对经过所述DenseASPP模块处理后的特征图进行上采样,生成与所述第三特征图的分辨率大小相同的第三预设特征图;

将所述第三特征图与所述第三预设特征图生成与所述第三预设特征图的分辨率大小相同的第一特征图;将所述第四特征图与所述第四预设特征图进行融合生成与所述第四预设特征图的分辨率大小相同的第一特征图;以及将所述第五特征图与所述第五预设特征图进行融合生成与所述第五预设特征图的分辨率大小相同的第一特征图;所述第三预设特征图、所述第四预设特征图以及所述第五预设特征图分别包括病灶的位置;所述病灶的位置用于生成第一特征图中病灶的位置。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述第一图像进行特征提取,生成包含病灶的特征和位置的第一特征图,包括:

通过第二神经网络的残差模块对所述第一图像进行下采样,生成第四特征图;

通过所述第二神经网络的DenseASPP模块对所述第四特征图中不同尺度的病灶的特征进行提取;

经过所述DenseASPP模块处理后,通过所述第二神经网络的反卷积层以及所述残差模块对经过所述DenseASPP模块处理后的特征图进行上采样,生成与所述第一图像分辨率大小相同的所述第一预设特征图;

将所述第一图像与所述第一预设特征图生成与所述第一预设特征图的分辨率大小相同的第一特征图;所述第一预设特征图包括病灶的位置;所述病灶的位置用于生成第一特征图中病灶的位置。

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