[发明专利]OCT成像系统、电子设备和机器可读存储介质

权利要求书

1.一种OCT成像系统，其特征在于，所述OCT成像系统用于对被测样品的原始干涉信号进行处理；所述OCT成像系统还用于对探头扫描所述被测样品得到的B-Scan图像进行处理；所述OCT成像系统包括扫频OCT技术构建的OCT成像系统、谱域OCT技术构建的OCT成像系统或时域OCT技术构建的OCT成像系统；

所述OCT成像系统包括主机箱、探头、处理模块；所述主机箱分别与所述探头和所述处理模块连接；

所述主机箱控制所述探头扫描所述被测样品，采集所述被测样品的扫描数据；所述处理模块用于生成控制信息、校准所述探头和处理所述扫描数据；

所述探头包括光纤准直器、第一振镜、第一透镜、反射镜、第二透镜、第二振镜和物镜；

所述主机箱用于为所述探头提供光源；所述光纤准直器用于对所述光源发出的光束进行准直，并发射至所述第一振镜；所述第一振镜用于偏转所述光束的方向，以使所述光束进入所述第一透镜；所述第一透镜用于聚焦所述光束，通过所述反射镜使所述光束进入所述第二透镜；所述第二透镜用于聚焦所述光束，并发射至所述第二振镜，所述第二振镜用于偏转所述光束的方向，通过所述物镜照射在被测样品上；

所述OCT成像系统还用于对所述探头中的振镜进行校准；所述OCT成像系统通过以下方式校准所述第一振镜和所述第二振镜：

在所述OCT成像系统的光源开启状态下，对所述第一振镜进行校准，获取所述第一振镜的第一零位电压；

对所述第二振镜进行校准，获取所述第二振镜的第二零位电压；

所述OCT成像系统还用于：

设置所述第一振镜的第一零位电压为预设的第一初始零位电压；

控制所述第一振镜进行X轴方向的B-Scan扫描，所述第二振镜静止，采集所述X轴方向的B-Scan数据；

分析所述X轴方向的B-Scan数据，得到第一光程差；

判断所述第一光程差是否对称；

如果不对称，调整所述第一零位电压，重复执行控制所述第一振镜进行X轴方向的B-Scan扫描的步骤，直至所述第一光程差对称；

获取所述第一零位电压；

如果所述OCT成像系统为扫频OCT成像系统，所述扫频OCT成像系统通过以下方式对被测样品的原始干涉信号进行处理：

获取所述被测样品的原始干涉信号和数值补偿数据；

对所述原始干涉信号进行处理，得到所述原始干涉信号的原始相位信号；

根据所述数值补偿数据，对所述原始相位信号进行处理，得到数值补偿后的干涉信号；

对所述数值补偿后的干涉信号进行处理，得到数值补偿后的A-Scan信号；

所述扫频OCT成像系统还用于：

在被测样品为平面镜的状态下，调节所述OCT成像系统中的延时线，以获取多个光程差对应的多个第一干涉信号；

对所述多个第一干涉信号分别进行加窗和去直流项，得到多个第二干涉信号；

对所述多个第二干涉信号进行希尔伯特变换和相位解缠，得到与所述多个第二干涉信号对应的多个相位信号；

对所述多个相位信号进行线性拟合，得到线性拟合相位信号；

根据所述线性拟合相位信号，对所述多个相位信号分别进行处理，得到与所述多个光程差分别对应的多个相位差信号；

对所述多个相位差信号进行加权平均，得到所述数值补偿数据。

2.根据权利要求1所述的OCT成像系统，其特征在于，所述OCT成像系统还用于：

设置所述第二振镜的第二零位电压为预设的第二初始零位电压；

控制所述第二振镜进行Ｙ轴方向的B-Scan扫描，所述第一振镜静止，采集所述Ｙ轴方向的B-Scan数据；

分析所述Ｙ轴方向的B-Scan数据，得到第二光程差；

判断所述第二光程差是否对称；

如果不对称，调整所述第二零位电压，重复执行控制所述第二振镜进行Ｙ轴方向的B-Scan扫描的步骤，直至所述第二光程差对称；

获取所述第二零位电压。

3.根据权利要求1所述的OCT成像系统，其特征在于，所述扫频OCT成像系统还用于：

对所述原始干涉信号进行加窗和去直流项，得到第三干涉信号；

对所述第三干涉信号进行希尔伯特变换和相位解缠，得到所述原始干涉信号的原始相位信号。