[发明专利]整形电路、测试板卡及测试机

权利要求书

1.一种整形电路，其特征在于，包括：

过压检测单元，接收待测信号，用于判断所述待测信号的幅值是否超过阈值，并根据判断结果输出控制信号；

处理单元，接收所述待测信号，并与所述过压检测单元连接，接收所述控制信号，根据所述控制信号输出所述待测信号和分压后的待测信号的其中之一；

整形单元，与所述处理单元连接，用于对所述处理单元输出的信号进行整形。

2.根据权利要求1所述的整形电路，其特征在于，在所述待测信号的幅值超过所述阈值时，所述处理单元输出所述分压后的待测信号；

在所述待测信号的幅值小于或等于所述阈值时，所述处理单元输出所述待测信号。

3.根据权利要求1所述的整形电路，其特征在于，所述过压检测单元包括：

第一电阻和第二电阻，所述第一电阻和所述第二电阻依次串联于待测信号输入端与接地端之间；

第一比较器，同相输入端与所述第一电阻和所述第二电阻的连接节点连接，反相输入端接收第一基准电压，输出端输出所述控制信号。

4.根据权利要求3所述的整形电路，其特征在于，所述第一基准电压的电压值等于所述阈值对应电压值与所述第一电阻和所述第二电阻的分压比例的乘积。

5.根据权利要求1所述的整形电路，其特征在于，所述处理单元包括：

第一开关管，第一通路端接收所述待测信号，第二通路端通过串联的第三电阻和第四电阻接地，控制端接收所述控制信号；

反相器，输入端接收所述控制信号；

第二开关管，第一通路端接收所述待测信号，控制端与所述反相器的输出端连接，

其中，所述第三电阻和所述第四电阻的连接节点与所述第二开关管的第二通路端连接，用以输出所述待测信号和所述分压后的待测信号的其中之一。

6.根据权利要求5所述的整形电路，其特征在于，所述第一开关管和所述第二开关管均为NMOS晶体管。

7.根据权利要求1所述的整形电路，其特征在于，所述处理单元包括：

第一开关管，第一通路端接收所述待测信号，第二通路端通过串联的第三电阻和第四电阻接地，控制端接收所述控制信号；

第二开关管，第一通路端接收所述待测信号，控制端接收所述控制信号，

其中，所述第三电阻和所述第四电阻的连接节点与所述第二开关管的第二通路端连接，用以以输出所述待测信号和所述分压后的待测信号的其中之一。

8.根据权利要求7所述的整形电路，其特征在于，所述第一开关管为NMOS晶体管，所述第二开关管为PMOS晶体管。

9.根据权利要求1所述的整形电路，其特征在于，所述整形单元包括：

第二比较器，同相输入端与所述处理单元的输出端连接，反相输入端接收第二基准电压，输出端输出整形后的待测信号。

10.一种测试板卡，其特征在于，包括：

选择模块，包括多个输入端和多个输出端，用以接收待测信号，并根据所述待测信号产生开始控制信号和停止控制信号；

滤波模块，与所述选择模块连接，接收所述开始控制信号和所述停止控制信号，用以对所述开始控制信号和所述停止控制信号进行滤波；

间隔信号产生模块，与所述滤波模块连接，接收滤波后的开始控制信号和停止控制信号，并根据所述滤波后的开始控制信号和所述滤波后的停止控制信号产生开始信号和停止信号；

时间测量模块，与所述间隔信号产生模块连接，接收所述开始信号和所述停止信号，测量以获得所述开始信号和所述停止信号之间的时间间隔；

处理器，与所述时间测量模块连接，接收所述时间测量模块的测量结果，对所述测量结果进行数据分析，以获得所述待测信号的频率参数，

其中，所述选择模块的每个输入端上还设置有如权利要求1-9中任一项所述的整形电路，所述整形电路用于对输入的所述待测信号进行幅值检测和波形整形，并在所述待测信号的幅值超过阈值时对所述待测信号进行分压后输出。