[发明专利]可配置的二取二硬件平台老化测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，其特征在于，包括上位机、交换机以及待测试的二取二硬件平台，所述的上位机通过交换机分别与各待测试的二取二硬件平台连接；

所述的上位机设有待测平台的板卡配置模块，用于对各待测平台的板卡进行测试前的配置。

2.根据权利要求1所述的一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，其特征在于，所述的上位机设有用户界面，该用户界面用于选择待测试的平台，填写测试人员、测试时长信息，发起系统握手，并开启测试。

3.根据权利要求1所述的一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，其特征在于，所述的上位机中设有用于保存测试日志文件和报告文件的存储器，其中日志文件用于辅助定位故障点和故障原因，报告文件作为老化测试通过与否的证据。

4.根据权利要求1所述的一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，其特征在于，所述的上位机与待测试的二取二硬件平台采用C/S通信模式，其中上位机作为客户端，待测试的二取二硬件平台作为服务器端。

5.根据权利要求1所述的一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，其特征在于，所述的待测试的二取二硬件平台最多为4台。

6.根据权利要求1所述的一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，其特征在于，所述的待测试的二取二硬件平台包括均运行有下位机测试软件的VLE-2板和DVCOM-2板，其中下位机测试软件等待并解析上位机发起的各种测试请求，包括开始握手、系统配置、开始测试、结束测试、板卡复位、恢复配置。

7.根据权利要求1所述的一种可配置的二取二硬件平台老化测试系统，其特征在于，所述的上位机通过通信协议与待测试的二取二硬件平台通信，其中通信协议以UDP协议为基础，并优化了功能测试通信协议的部分内容。

8.一种采用权利要求1所述的可配置的二取二硬件平台老化测试系统的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)待测系统信息输入：根据不同待测平台，选择各个板卡及其版本，输入其对应的序列号；

2)系统配置过程：在进行老化测试前，对各个平台中的板卡进行配置，老化测试系统中，所有相同名称的板卡默认都使用相同的配置；

3)老化测试过程：在上位机用户界面，选择带测试的系统，填写测试人员、测试时长信息，发起系统握手，并开启测试；测试过程中，上位机向各个板卡下位机软件请求测试状态信息，并同步保存到日志文件和报告文件中；

4)配置恢复过程：测试结束以后，将所有修改过配置的板卡，恢复为默认配置，以便进行下一道工序。