[发明专利]在全息记录中限制固态激光器有效相干长度的系统和方法有效
申请号: | 202010074334.9 | 申请日: | 2020-01-22 |
公开(公告)号: | CN111505925B | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | 蒂莫西·J·布里顿;詹姆士·M·特德斯科 | 申请(专利权)人: | 凯塞光学系统股份有限公司 |
主分类号: | G03H1/04 | 分类号: | G03H1/04;G03H1/02;H01S3/102 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 穆森;戚传江 |
地址: | 美国密*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 全息 记录 限制 固态 激光器 有效 相干 长度 系统 方法 | ||
1.一种使全息记录介质曝光的方法,包括以下步骤:
提供固态激光器,所述固态激光器被配置成输出具有标称发射波长的激光光束;
将所述激光光束分成第一曝光光束和第二曝光光束,以在曝光时段期间在所述记录介质中形成具有相位的第一干涉条纹图样;
依照波长-时间曲线来改变所述激光器的所述标称发射波长,以减小在所述曝光时段期间积分的所述激光器的有效相干长度;以及
在所述记录介质正在被曝光的同时,使所述第一干涉条纹图样的相位维持在最大相干性的位置处或最大对比度的位置处。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,通过调整波长敏感激光腔分量或参数来改变所述激光器的标称发射波长。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述波长敏感激光腔分量或参数是所述激光器的谐振腔光具座的温度设定点。
4.根据权利要求3所述的方法,还包括:
使用干涉仪来监测所述标称发射波长;以及
经由反馈控制回路依照所述波长-时间曲线来更新所述温度设定点。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,依照波长-时间曲线来改变所述激光器的所述标称发射波长包括在贯穿所述曝光时段中以预先确定的变化率改变所述标称发射波长。
6.根据权利要求1所述的方法,其中,依照波长-时间曲线来改变所述激光器的所述标称发射波长包括在贯穿所述曝光时段中连续地改变所述标称发射波长。
7.根据权利要求1所述的方法,还包括:
在所述记录介质处或附近对所述第一曝光光束和所述第二曝光光束进行采样,以确定所述条纹图样的相位。
8.根据权利要求7所述的方法,还包括:
依照所确定的相位来调整所述第一曝光光束和所述第二曝光光束中的一个的路径长度,以使所述条纹图样的对比度最大化。
9.根据权利要求1所述的方法,其中,所述标称发射波长在100皮米或更小的光谱带宽上改变。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,所述光谱带宽在1至20皮米的范围内。
11.根据权利要求1所述的方法,其中,所述标称发射波长被控制在10皮米或更小内。
12.根据权利要求1所述的方法,其中,所述标称发射波长被控制在0.1皮米内。
13.根据权利要求1所述的方法,其中,使所述第一干涉条纹图样的相位维持在最大相干性的位置或最大对比度的位置处的步骤包括:
在所述记录介质处或附近对所述第一曝光光束和所述第二曝光光束进行采样,以确定最大相干性的位置或最大对比度的位置;以及
随着所述标称发射波长改变,调整所述第一曝光光束和所述第二曝光光束中的一个的路径长度,以使所述第一干涉条纹图样的相位维持在最大相干性或对比度的位置处。
14.根据权利要求13所述的方法,还包括:
使所述第一曝光光束和所述第二曝光光束沿着共同路径偏离所述记录介质,以形成第二干涉条纹图样;以及
在所述第二干涉条纹图样中检测条纹的峰、零位或边缘。
15.根据权利要求1所述的方法,其中,所述记录介质限定100平方英寸或更大的孔径。
16.根据权利要求1所述的方法,其中,所述记录介质形成平视显示器。
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