[发明专利]高压强下综合介电性能测量用压力腔结构及其测量方法有效

专利信息
申请号: 202010075623.0 申请日: 2020-01-22
公开(公告)号: CN111257704B 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 张冶文;徐景贤;王暄;孙亚博;郑飞虎 申请(专利权)人: 同济大学;哈尔滨理工大学;西安交通大学
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12;G01R27/26;G01R29/24
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 王怀瑜
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 压强 综合 性能 测量 压力 结构 及其 测量方法
【权利要求书】:

1.一种高压强下综合介电性能测量用压力腔结构,其特征在于,包括陶瓷环(1)、模具钢套(2)、玄武岩纤维套(3)和防涨保护钢套(5),所述防涨保护钢套(5)套设在所述玄武岩纤维套(3)外侧,所述玄武岩纤维套(3)内部设有通孔,该通孔侧壁连接所述陶瓷环(1)和所述模具钢套(2),所述陶瓷环(1)下端受所述通孔侧壁支撑,上端连接所述模具钢套(2),所述压力腔结构设有低压孔(6)和高压孔(7),所述低压孔(6)和所述高压孔(7)均从所述压力腔结构外侧贯通至所述玄武岩纤维套(3)内部的通孔。

2.根据权利要求1所述的一种高压强下综合介电性能测量用压力腔结构,其特征在于,所述压力腔结构还包括保护顶盖(4)和保护底套(8),所述保护顶盖(4)连接所述防涨保护钢套(5)的上表面,所述保护底套(8)连接所述防涨保护钢套(5)的下表面。

3.根据权利要求1所述的一种高压强下综合介电性能测量用压力腔结构,其特征在于,所述低压孔(6)和所述高压孔(7)相互垂直。

4.根据权利要求1所述的一种高压强下综合介电性能测量用压力腔结构,其特征在于,所述压力腔结构用于对平板样品(16)进行测量,所述陶瓷环(1)围绕所述平板样品(16)。

5.根据权利要求1所述的一种高压强下综合介电性能测量用压力腔结构,其特征在于,所述玄武岩纤维套(3)的外表面为圆台面。

6.根据权利要求1所述的一种高压强下综合介电性能测量用压力腔结构,其特征在于,所述玄武岩纤维套(3)和所述防涨保护钢套(5)紧配合连接。

7.一种采用如权利要求1所述的高压强下综合介电性能测量用压力腔结构的综合介电性能测量方法,其特征在于,所述方法具体为,在所述压力腔结构内部的通孔中放入测量结构,然后将传导信号的电缆分别通过所述低压孔(6)和所述高压孔(7),接触到测量结构中对应的导电部分,然后进行综合介电性能测量。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述测量结构包括固定组件、平板样品(16)和替换组件,所述固定组件包括自下而上依次连接的碳化钨屏蔽块(9)、环氧玻璃布绝缘块(10)、碳化钨电极块(11)和环氧玻璃布嵌电压极(12),所述平板样品(16)的一面连接所述环氧玻璃布嵌电压极(12),另一面连接所述替换组件。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述综合介电性能测量包括在高压强下绝缘材料的介电系数以及介电损耗的测量,所述方法还包括,当进行高压强下绝缘材料的介电系数以及介电损耗的测量时,将所述替换组件设置为环氧玻璃布嵌信号极(13)和受压碳化钨柱(14),所述环氧玻璃布嵌信号极(13)的一端连接所述受压碳化钨柱(14),另一端连接所述平板样品(16),通过在所述受压碳化钨柱(14)上表面施加垂直向下的高压力,进行介电系数以及介电损耗的测量。

10.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述综合介电性能测量包括在高压强下绝缘材料中的空间电荷分布的测量,所述方法还包括,当进行高压强下绝缘材料中的空间电荷分布的测量时,将所述替换组件设置为声脉冲发生器(15),该声脉冲发生器(15)的输出端连接所述平板样品(16),然后进行空间电荷分布的测量。

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