[发明专利]X射线检查装置在审

专利信息
申请号: 202010075639.1 申请日: 2020-01-22
公开(公告)号: CN111505027A 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 西村弘;近藤慎吾;西上要;牧野伸哉;小林航太郎 申请(专利权)人: 株式会社石田
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 李丹
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 检查 装置
【权利要求书】:

1.一种X射线检查装置,具备:

X射线源;

冷却器,用于冷却所述X射线源;

冷却器罩,形成有连通内外的开口,覆盖所述冷却器;以及

开闭部件,开闭所述开口。

2.根据权利要求1所述的X射线检查装置,其中,

所述X射线检查装置还具备:

开闭检测传感器,检测所述开闭部件对所述开口的开闭。

3.根据权利要求2所述的X射线检查装置,其中,

所述X射线检查装置还具备:

告知部,基于所述开闭检测传感器的检测结果,告知与所述开闭部件对所述开口的开闭相关的信息。

4.根据权利要求3所述的X射线检查装置,其中,

所述告知部至少在所述X射线检查装置运行开始前或运行开始时,告知与所述开闭部件对所述开口的开闭相关的信息。

5.根据权利要求3或4所述的X射线检查装置,其中,

所述告知部至少在所述X射线检查装置运行终止时或运行终止后,告知与所述开闭部件对所述开口的开闭相关的信息。

6.根据权利要求3至5中任一项所述的X射线检查装置,其中,

在所述开闭检测传感器检测到所述开口被所述开闭部件关闭时,所述告知部告知:所述X射线检查装置不可运行。

7.根据权利要求2至6中任一项所述的X射线检查装置,其中,

所述X射线检查装置还具备:

禁止运行部,在所述开闭检测传感器检测到所述开口被所述开闭部件关闭时,禁止所述X射线检查装置的运行。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的X射线检查装置,其中,

所述冷却器罩形成长方体状或半圆柱状的空间。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的X射线检查装置,其中,

所述X射线检查装置还具备:

阻力机构,阻碍关闭所述开口的所述开闭部件的打开动作。

10.根据权利要求9所述的X射线检查装置,其中,

对于相当于IP69K的喷水,所述阻力机构保持关闭所述开口的所述开闭部件关闭所述开口的状态。

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