[发明专利]触控装置及其判断方法在审

专利信息
申请号: 202010076348.4 申请日: 2020-01-23
公开(公告)号: CN113031800A 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 曾华民;林秋燕 申请(专利权)人: 纬创资通股份有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G06F3/044
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 赵平;周永君
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 装置 及其 判断 方法
【权利要求书】:

1.一种触控装置,其特征在于,包括:

一触控面板,包括:

一第一扫描线,串接一第一二极管;

一第二扫描线,串接一第二二极管,其中所述第一扫描线以及所述第二扫描线相互串接于一第一节点以及一第二节点之间;以及

一感测线,与所述第一扫描线以及所述第二扫描线相互交错;

一驱动电路,根据一扫描信号,于所述第一节点以及所述第二节点之间产生一第一扫描电压;

一感测电路,根据一检测信号,感测所述感测线的电容值而产生一接收信号;以及

一控制器,产生所述扫描信号以及所述检测信号,并根据所述第一扫描电压以及所述接收信号,判断所述触控面板上的一触碰点的位置。

2.根据权利要求1所述的触控装置,其特征在于,所述第一二极管具有一第一顺向导通电压,所述第二二极管具有一第二顺向导通电压,其中当所述第一扫描电压超过所述第一顺向导通电压且小于所述第一顺向导通电压以及所述第二顺向导通电压之和并且所述第一节点的电压大于所述第二节点的电压时,所述驱动电路对所述第一扫描线进行充电,其中当所述控制器判断所述感测线的电容值超过一第一临限值时,所述控制器判断所述触碰点发生于所述第一扫描线以及所述感测线的交点。

3.根据权利要求2所述的触控装置,其特征在于,当所述第一扫描电压超过所述第一顺向导通电压以及所述第二顺向导通电压之和并且所述第一节点的电压大于所述第二节点的电压时,所述驱动电路对所述第一扫描线以及所述第二扫描线进行充电,其中当所述控制器判断所述感测线的电容值超过一第二临限值时,所述控制器判断所述触碰点发生于所述第一扫描线、所述第二扫描线以及所述感测线的交点。

4.根据权利要求3所述的触控装置,其特征在于,所述第一二极管还与一第三二极管相并联且耦接至所述第一扫描线,所述第一二极管的导通方向与所述第三二极管相反,其中所述第二二极管更与一第四二极管相并联且耦接至所述第二扫描线,所述第二二极管与所述第四二极管的导通方向相反,其中所述第三二极管具有一第三顺向导通电压,所述第四二极管具有一第四顺向导通电压。

5.根据权利要求4所述的触控装置,其特征在于,当所述控制器判断所述触碰点发生于所述第一扫描线、所述第二扫描线以及所述感测线的交点时,所述驱动电路更根据所述扫描信号而产生一第二扫描电压而对所述第二扫描线进行充电,其中所述第二扫描电压大于所述第四顺向导通电压且小于所述第三顺向导通电压以及所述第四顺向导通电压之和且所述第一节点的电压小于所述第二节点的电压,其中当所述控制器判断所述感测线的电容值超过所述第一临限值时,所述控制器判断所述触碰点发生于所述第二扫描线以及所述感测线的交点。

6.根据权利要求4所述的触控装置,其特征在于,所述第一二极管、所述第二二极管、所述第三二极管以及所述第四二极管形成于一薄膜晶体管的基板上或一彩色滤光片的基板上。

7.一种判断方法,适用于一触控面板,其特征在于,所述触控面板包括与一第一二极管串接的一第一扫描线、与一第二二极管串接的一第二扫描线以及至少一感测线,其中所述第一扫描线以及所述第二扫描线相互串接于一第一节点以及一第二节点之间,所述第一扫描线、所述第二扫描线以及所述感测线相互交错,其中所述判断方法包括:

于所述第一节点以及所述第二节点之间产生一第一扫描电压;

感测所述感测线的电容值;以及

根据所述第一扫描电压以及所述感测线的电容值判断一触碰事件的一触碰点的位置。

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