[发明专利]编码器所用的寿命检测装置

说明书

目的：提供一种可以基于使用环境的环境状况来判断编码器的寿命的编码器所用的寿命检测装置。解决手段：编码器(1)的寿命检测装置(4)用于包括标尺(21)和头部(3)的编码器(1)。标尺(21)容纳在标尺架(2)中。头部(3)沿着标尺(21)相对移动以检测与标尺(21)的相对移动量。寿命检测装置(4)包括环境状况检测部件(5)、寿命判断部件(8)和通知部件(9)。环境状况检测部件(5)被配置为检测与编码器(1)中的寿命检测有关的环境状况。寿命判断部件(8)被配置为基于环境状况检测部件(5)的检测结果来判断构成编码器(1)的组件的寿命。通知部件(9)被配置为基于寿命判断部件(8)的判断结果来通知寿命。

技术领域

本发明涉及编码器所用的寿命检测装置。

背景技术

传统上，已知有用于预测诸如编码器等的测量仪器的寿命以防止不正常工作的技术。例如，专利文献1中所述的具有光电检测器的寿命检查功能的定位控制电路包括：发光器；具有狭缝的遮光板；布置在发光器的相对侧的受光器，其中遮光板插入在受光器和发光器之间；控制电路，用于在需要时接通/断开施加至发光器的电源；输出电平判断电路，用于判断受光器的输出电平；以及位置检测判断电路。输出电平判断电路和位置检测判断电路设置有寿命判断电路。寿命判断电路基于诸如发光器和受光器等的各器件的电压电平来判断寿命。具有光电检测器的寿命检查功能的定位控制电路基于寿命判断电路所判断的寿命来初步防止由因光电检测器的寿命缩短引起的光电转换效率下降所造成的误操作。

引文列表

专利文献

专利文献1：日本特开2000-98052

发明内容

发明要解决的问题

这里，例如，在诸如高温高湿环境、极端干燥环境和多尘环境等的各种环境中使用编码器。编码器由于制造之后的年数的流逝以及使用频率而随时间的经过逐渐劣化，并且劣化的进展根据使用环境而改变。例如，与在适当环境中使用编码器的情况相比，在高温高湿环境中长时间使用编码器会使编码器更早劣化。具体地，诸如发光器和受光器等的配备有编码器的组件与在适当环境中使用的情况相比受腐蚀并且更快地劣化。

专利文献1的具有光电检测器的寿命检查功能的定位控制电路中的寿命判断电路基于诸如发光器和受光器等的各器件的电压电平来判断寿命，但未考虑由于使用环境的变化而引起的劣化的进展。如上所述，编码器的劣化的进展根据使用环境而改变，因此在未考虑使用环境的情况下，在所判断的寿命中可能发生误差。也就是说，编码器的寿命有可能比所判断的寿命更快地结束。结果，存在编码器的可靠性有可能下降的问题。

本发明的目的是提供一种可以基于使用环境的环境状况来判断编码器的寿命的编码器所用的寿命检测装置。

用于解决问题的方案

根据本发明的编码器所用的寿命检测装置是一种编码器所用的寿命检测装置，其用于包括标尺和头部的编码器。所述标尺容纳在标尺架中。所述头部沿着所述标尺相对移动以检测与所述标尺的相对移动量。所述编码器所用的所述寿命检测装置包括环境状况检测部件、寿命判断部件和通知部件。所述环境状况检测部件被配置为检测与所述编码器中的寿命检测有关的环境状况。所述寿命判断部件被配置为基于所述环境状况检测部件的检测结果来判断构成所述编码器的组件的寿命。所述通知部件被配置为基于所述寿命判断部件的判断结果来通知所述寿命。