[发明专利]数据处理装置、数据处理方法以及存储介质有效

专利信息
申请号: 202010084074.3 申请日: 2020-02-10
公开(公告)号: CN111561871B 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 尾上太郎 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达株式会社
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 韩锋
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 数据处理 装置 方法 以及 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种数据处理装置,对将测量对象的形状作为二维坐标上的测量数据而测量的第一线传感器和第二线传感器所获取的测量数据进行处理,其特征在于,

由所述第一线传感器测量的第一坐标平面与由所述第二线传感器测量的第二坐标平面相同或平行,

具备:

获取部,其在使表面与所述第一坐标平面和所述第二坐标平面正交配置的基准平面板以与所述第一坐标平面和所述第二坐标平面正交的轴为中心而进行了旋转的彼此不同的两个以上的位置,从所述第一线传感器和所述第二线传感器获取测量数据;

计算部,其基于在所述基准平面板的所述两个以上的位置从所述第一线传感器和所述第二线传感器获取的测量数据,计算所述第一坐标平面与所述第二坐标平面的同一坐标轴之间的角度、以及所述第一坐标平面的原点与所述第二坐标平面的原点的相对位置。

2.如权利要求1所述的数据处理装置,其中,

所述计算部基于在所述基准平面板的所述两个以上的位置中的至少一个以上的位置从所述第一线传感器和所述第二线传感器获取的测量数据,计算所述第一坐标平面与所述第二坐标平面的同一坐标轴之间的角度,

所述计算部针对所述基准平面板的所述两个以上的位置中的每个位置,求出与从所述第一线传感器获取的测量数据对应的所述第一坐标平面上的直线的斜率和截距、以及使与从所述第二线传感器获取的测量数据对应的所述第二坐标平面上的直线以所述第二坐标平面的原点为中心旋转所述角度后的直线的斜率和截距,并基于针对所述两个以上的位置中的每个位置求出的所述第一坐标平面上的直线的斜率和截距、以及在所述第二坐标平面上旋转后的直线的斜率和截距,计算所述第一坐标平面的原点与所述第二坐标平面的原点的相对位置。

3.如权利要求1或者2所述的数据处理装置,其中,

具备将从所述第二线传感器获取的测量数据转换为与所述第一线传感器同一的坐标系中的测量数据的转换部。

4.如权利要求1或2所述的数据处理装置,其中,

所述第一线传感器和所述第二线传感器配置在用于测量在电子照相式图像形成装置中使用的感光体与显影辊之间的距离的夹具上。

5.如权利要求4所述的数据处理装置,其中,

在所述夹具上设有用于保持所述感光体的保持轴,

所述保持轴也用于保持所述基准平面板来代替所述感光体,

通过使所述基准平面板以所述保持轴为中心进行旋转,进行所述两个以上的位置上的所述基准平面板的测量。

6.一种数据处理方法,对将测量对象的形状作为二维坐标上的测量数据而测量的第一线传感器和第二线传感器所获取的测量数据进行处理,其特征在于,

由所述第一线传感器测量的第一坐标平面与由所述第二线传感器测量的第二坐标平面相同或平行,

包含:

获取工序,其在使表面与所述第一坐标平面和所述第二坐标平面正交配置的基准平面板以与所述第一坐标平面和所述第二坐标平面正交的轴为中心而进行了旋转的彼此不同的两个以上的位置,从所述第一线传感器和所述第二线传感器获取测量数据;

计算工序,其基于在所述基准平面板的所述两个以上的位置从所述第一线传感器和所述第二线传感器获取的测量数据,计算所述第一坐标平面与所述第二坐标平面的同一坐标轴之间的角度、以及所述第一坐标平面的原点与所述第二坐标平面的原点的相对位置。

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