[发明专利]一种握持姿态检测方法及电子设备

权利要求书

1.一种握持姿态检测方法，应用于电子设备，其特征在于，包括：

所述电子设备获取在N个采样时刻下所述电子设备上的M个传感器单元的特征信息，M和N为正整数；

所述电子设备根据所述特征信息，确定在所述N个采样时刻下所述M个传感器单元对应的N个状态序列；

所述电子设备将所述N个状态序列与预设的参考状态序列集合中的K个参考状态序列进行匹配，从所述K个参考状态序列中确定相似度最大的第一参考状态序列，K为正整数；

所述电子设备将所述第一参考状态序列所对应的参考握持姿态作为所述电子设备的握持姿态；

所述电子设备根据所述N个状态序列，对所述预设的参考状态序列集合中的参考状态序列进行更新；

其中，所述电子设备根据所述N个状态序列，对所述预设的参考状态序列集合中的参考状态序列进行更新包括以下内容中的至少一项：

对所述预设的参考状态序列集合中的所述第一参考状态序列进行替换；

在所述预设的参考状态序列集合中增加状态序列；或，

从所述预设的参考状态序列集合中删除参考状态序列。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子设备上的M个传感器单元被划分成L个传感器组，所述特征信息包括所述M个传感器单元的传感器数据和传感器单元的标识，其中L为正整数；

所述电子设备所述根据所述特征信息，确定在所述N个采样时刻下所述M个传感器单元对应的N个状态序列，包括：

所述电子设备根据所述特征信息中的传感器单元的标识，确定每个传感器组中的传感器单元的传感器数据；

针对所述N个采样时刻的任意一个采样时刻：所述电子设备将所述L个传感器组中的传感器单元的传感器数据与预设阈值进行比较，根据比较结果确定所述L个传感器组的状态；生成在所述采样时刻M个传感器单元对应的状态序列，所述状态序列包括所述L个传感器组的状态。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述电子设备将所述L个传感器组中的传感器单元的传感器数据与预设阈值进行比较，根据比较结果确定所述L个传感器组的状态，包括：

针对所述L个传感器组中的第一传感器组，所述第一传感器组为所述L个传感器组中的任意一个：

当所述第一传感器组中有检测值的传感器单元的占比大于第一阈值时，所述电子设备确定所述第一传感器组的状态为有效状态，否则为无效状态，所述占比为有检测值的传感器单元的总数U与所述第一传感器组的传感器单元总数V之间的比值；

和/或，当所述第一传感器组中的传感器单元的检测值大于第二阈值时，所述电子设备确定所述第一传感器组的状态为有效状态，否则为无效状态。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，当所述N大于1时，所述电子设备将所述N个状态序列与预设的参考状态序列集合中的K个参考状态序列进行匹配，从所述K个参考状态序列中确定相似度最大的第一参考状态序列，包括：

针对所述N个状态序列中任意一个状态序列：所述电子设备计算所述状态序列与K个参考状态序列之间的K个相似度，并从K个相似度中确定相似度最大的一个参考状态序列；

所述电子设备从N个状态序列对应的N个参考状态序列中，确定出现次数最多的参考状态序列作为所述第一参考状态序列。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述电子设备计算所述N个状态序列与K个参考状态序列之间的相似度，包括：

所述电子设备计算所述N个状态序列中关键传感器组对应的状态与K个参考状态序列中关键传感器组对应的状态之间的相似度，所述关键传感器组为所述L个传感器组中的传感器组。

6.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述电子设备根据所述N个状态序列，对所述预设的参考状态序列集合中的参考状态序列进行更新，包括：

所述电子设备从所述N个状态序列中，确定与所述第一参考状态序列之间相似度大于第三阈值且出现次数最多的第一状态序列；

所述电子设备将所述预设的参考状态序列集合中的所述第一参考状态序列替换为所述第一状态序列。