[发明专利]一种全局光照相交加速方法、装置及计算机存储介质

权利要求书

1.一种全局光照相交加速方法，其特征在于，所述方法包括：

针对层级场景中设定层级所包括的每个轴侧包围盒，根据各轴侧包围盒内包含图元的材料反射特性对应获取各轴侧包围盒的平均材料反射特性；

相应于射线对应于追踪漫反射表面的入射辐亮度，计算与所述射线相交的目标轴测包围盒；

通过对所述目标轴侧包围盒的平均材料反射特性采样值进行插值，获取所述目标轴侧包围盒的平均材料反射特性在反射辐亮度方向的值；

利用所述目标轴侧包围盒的平均材料反射特性在反射辐亮度方向的值按照设定的渲染策略进行渲染，获取所述目标轴侧包围盒的平均反射辐亮度；并将所述目标轴侧包围盒的平均反射辐亮度确定为所述漫反射表面在所述目标轴侧包围盒区域的入射辐亮度；

其中，所述针对层级场景中设定层级所包括的每个轴侧包围盒，根据各轴侧包围盒内包含图元的材料反射特性对应获取各轴侧包围盒的平均材料反射特性，包括：

针对层级场景中设定层级所包括的每个轴侧包围盒，获取所述轴侧包围盒所包含的每个图元在半空间的材料反射特性以及每个图元的法向量；其中，，表示所述轴侧包围盒所包含的图元数量，是入射辐亮度的方向，反射辐亮度的方向；

基于所述每个图元在半空间的材料反射特性，获取每个图元在全空间的材料反射特性；

根据每个图元面积与所述轴侧包围盒面积之比获取每个图元对应的权值；

将每个图元对应的权值、每个图元在全空间的材料反射特性、以及每个图元的法向量相乘之后，对所述轴侧包围盒所包含的所有图元各自对应的乘积进行累加，获得所述轴侧包围盒的平均材料反射特性。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述轴侧包围盒的平均材料反射特性按照设定的采样范围进行采样，获取所述轴侧包围盒的平均材料反射特性采样值，并将所述轴侧包围盒的平均材料反射特性采样值存储于显存中；其中，，表示入射方向采样范围，表示反射方向采样范围，表示实数空间，表示入射方向采样范围内的采样点，表示反射方向采样范围内的采样点；

相应地，所述通过对所述目标轴侧包围盒的平均材料反射特性采样值进行插值，获取所述目标轴侧包围盒的平均材料反射特性在反射辐亮度方向的值，包括：

利用所述显存中存储的所述目标轴侧包围盒的平均材料反射特性采样值进行插值，获得所述目标轴侧包围盒的平均材料反射特性在反射辐亮度方向处的值为 。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用所述目标轴侧包围盒的平均材料反射特性在反射辐亮度方向的值按照设定的渲染策略进行渲染，获取所述目标轴侧包围盒的平均反射辐亮度，包括：

利用所述目标轴侧包围盒的，按照设定的渲染表达式进行渲染，获得所述目标轴侧包围盒的平均反射辐亮度；

其中，L_i表示入射辐亮度函数，∫表示积分运算符号，Ω表示积分范围为全空间。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

判定由射线生成单元发送的射线是否对应于追踪漫反射表面的入射辐亮度；

相应于射线对应于追踪漫反射表面的入射辐亮度，在计算与所述射线相交的目标轴测包围盒之后，向渲染计算单元返回所述射线与目标轴侧包围盒的交点或者与射线相交的目标轴侧包围盒位置，以及目标轴侧包围盒的标识；

相应于射线对应于追踪非漫反射表面的入射辐亮度，确定与所述射线相交的图元以及所述射线与所述图元的交点，并向渲染计算单元返回与所述射线相交的图元标识以及所述射线与所述图元的交点。