[发明专利]验证方法和系统有效

专利信息
申请号: 202010086572.1 申请日: 2020-02-11
公开(公告)号: CN113254295B 公开(公告)日: 2022-09-13
发明(设计)人: 吴学儒;吴景桐 申请(专利权)人: 瑞昱半导体股份有限公司
主分类号: G06F11/263 分类号: G06F11/263;G06F21/72
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 酆迅;董典红
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 验证 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种存储器内容验证方法,用于验证芯片的第一易失性可读写存储器的内容,所述芯片的第一非易失性可读写存储器存放有固件映像,所述固件映像中包含预定运算值,所述芯片包括第二易失性可读写存储器,所述验证方法包括:

在开机加载模式下,验证所述第一非易失性可读写存储器中的所述固件映像;

将所述固件映像的第一部分加载至所述第一易失性可读写存储器,以及将所述固件映像的第二部分加载至所述第二易失性可读写存储器;

依据加载至所述第一易失性可读写存储器的所述第一部分、以及加载至所述第二易失性可读写存储器的所述第二部分来进行第一特定运算,并得到第一运算值;

若所述第一运算值与所述预定运算值相符,依据所述第一运算值来进行第二特定运算,并得到第二运算值;以及

将所述第二运算值存放至所述第二易失性可读写存储器,并进入主动模式。

2.根据权利要求1所述的验证方法,还包括:

在所述主动模式下,控制所述芯片进入省电模式后,所述芯片依据触发事件进入事件触发模式,并依据加载至所述第一易失性可读写存储器的所述第一部分、以及加载至所述第二易失性可读写存储器的所述第二部分来进行所述第一特定运算,并得到第三运算值;

依据所述第三运算值来进行所述第二特定运算,并得到第四运算值;

若所述第四运算值与存放于所述第二易失性可读写存储器的所述第二运算值相符,控制所述芯片进入所述主动模式。

3.根据权利要求2所述的验证方法,其中所述芯片还包括第二非易失性可读写存储器,且所述第二非易失性可读写存储器存放有密钥,且依据所述第一运算值来进行所述第二特定运算,并得到所述第二运算值包括:

依据所述第一运算值以及所述密钥来进行所述第二特定运算,并得到该第二运算值;以及

依据所述第三运算值来进行所述第二特定运算,并得到所述第四运算值包括:

依据所述第三运算值以及所述密钥来进行所述第二特定运算,并得到所述第四运算值。

4.根据权利要求1所述的验证方法,其中将所述第二运算值存放至所述第二易失性可读写存储器包括:

将所述第二运算值,连同所述第一部分以及所述第二部分的大小及加载地址,存放至所述第二易失性可读写存储器。

5.根据权利要求2所述的验证方法,还包括:

若所述第四运算值与所述第二运算值不相符,控制所述芯片进入所述开机加载模式。

6.根据权利要求2所述的验证方法,还包括:

若所述第三运算值与所述第一运算值不相符,控制所述芯片进入所述开机加载模式;以及

其中依据所述第三运算值来进行所述第二特定运算,并得到所述第四运算值包括:

若所述第三运算值与所述第一运算值相符,依据所述第三运算值来进行所述第二特定运算,并得到所述第四运算值。

7.一种存储器内容验证方法,用于验证芯片的第一易失性可读写存储器的内容,所述芯片的第一非易失性可读写存储器存放有固件映像,所述固件映像中包含预定运算值,所述芯片包括第二易失性可读写存储器,所述验证方法包括:

在开机加载模式下,验证所述第一非易失性可读写存储器中的所述固件映像;

将所述固件映像的第一部分加载至所述第一易失性可读写存储器,以及将所述固件映像的第二部分加载至所述第二易失性可读写存储器;

依据加载至所述第一易失性可读写存储器的所述第一部分、以及加载至所述第二易失性可读写存储器的所述第二部分来进行第一特定运算,并得到第一运算值;

若所述第一运算值与所述预定运算值相符,将所述第一运算值存放至所述第二易失性可读写存储器,并进入主动模式。

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