[发明专利]一种用于热振荡试验温度测量引线密封的装置有效
申请号: | 202010088486.4 | 申请日: | 2020-02-12 |
公开(公告)号: | CN111326268B | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 曹琼;赵泽武;陆道纲 | 申请(专利权)人: | 华北电力大学 |
主分类号: | G21C17/112 | 分类号: | G21C17/112 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 史双元 |
地址: | 102206 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 振荡 试验 温度 测量 引线 密封 装置 | ||
本发明属于热振荡试验温度测量技术领域,尤其涉及一种用于热振荡试验温度测量引线密封的装置,包括:上法兰和下法兰,两个法兰轴向上各开有多个外细内粗的变径通道,上下变径通道内分别设置与上下变径通道形状相匹配的护套和卡套,护套和卡套之间设置中空的圆柱环,护套和卡套内设有引线槽,线缆依次从护套、圆柱环、卡套内通过,上下法兰通过紧固件压紧密封。本发明通过在台架上装贯穿件来引出热电偶测温线,同时保证引线处在各种复杂工况下的密封性,能够实现在复杂试验环境工况下测温引线处台架的良好密封性,有助于热振荡试验设计的开展和提供给其他需要引线密封的台架一种密封手段。
技术领域
本发明属于热振荡试验温度测量技术领域,尤其涉及一种用于热振荡试验温度测量引线密封的装置。
背景技术
在快堆堆芯中,受各种组件棒束发热量不均的影响,流经不同通道的冷却剂温度存在差异,当它们在堆芯上腔室混合后,在中心测量柱附近将产生复杂的高频温度振荡现象。这种现象可能不仅会影响堆芯出口温度的测量精度,而且可能会引起堆芯出口上方的中心测量柱的热疲劳与热老化,进而影响反应堆的控制和保护动作,从而影响其正常运行。故通过设计热振荡试验台架来模拟不同工况下旋塞中心柱下封头附近流体区域内的高频温度振荡现象,记录各工况下的热振荡现象和关键参数,来探究热振荡现象对旋塞中心柱产生热疲劳的影响。通过测量中心柱下封头近壁面处温度变化有助于对热振荡现象的研究同时也是热振荡试验的关键一步。
而测温引线密封装置在进行热振荡试验数据测量时具有重要作用。良好的密封是试验成功与否的关键一步,而且引线密封装置也是在试验台架中最容易失效和出故障的设备之一,因密封装置的作用失效导致台架泄露的问题层出不穷,所以做好试验中引线密封对试验具有重大意义。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种用于热振荡试验温度测量引线密封的装置,包括:上法兰和下法兰,两个法兰轴向上各开有多个外细内粗的变径通道,上下变径通道内分别设置与上下变径通道形状相匹配的护套和卡套,护套和卡套之间设置中空的圆柱环,护套和卡套内设有引线槽,线缆依次从护套、圆柱环、卡套内通过,上下法兰通过紧固件压紧密封。
所述护套延轴线方向分割为两半,在穿线及取线的过程中需分开取出,用于保护信号线,防止线缆被割伤。
所述圆柱环在法兰的预紧力作用下对卡套进行挤压,使卡套变形,压紧线缆。
所述卡套延轴线方向分割为两半,在穿线及取线的过程中需分开取出,在挤压下产生变形,压紧线缆,起到密封作用。
所述线缆为热电偶信号线,直径为2mm,数量10根。
所述上法兰开孔最小处为15.5mm。
所述下法兰通过变径及接管安装在容器上,开孔最小处为15.5mm。
所述装置的密封步骤为:
步骤1、将热电偶置于测点位置后将引线线从设备引出;
步骤2、利用扳手将紧固件①松开,并将其取下,之后取下上法兰④、分开取下护套②、圆柱环③、分开取下卡套⑥;
步骤3、将各插头引线依次穿过下法兰⑤,分别安装卡套⑥及圆柱环③,确保将引线置于卡套引线槽内,防止在紧固件压紧过程中将引线压坏;
步骤4、放置上法兰④,并安装紧固件①;
步骤5、安装护套②,并调节线的长度至合适位置;
步骤6、均匀锁紧紧固件①。
本发明的有益效果:
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