[发明专利]一种基于白光扫描干涉的三维形貌解调方法有效

专利信息
申请号: 202010089262.5 申请日: 2020-02-12
公开(公告)号: CN111339844B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 桑梅;杜翔宇;王双;董洁;禹敏慧;刘铁根 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G01B11/24
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 李素兰
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 白光 扫描 干涉 三维 形貌 解调 方法
【权利要求书】:

1.一种基于白光扫描干涉的三维形貌解调方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

步骤1、对原始干涉信号进行滤波提取,消除信号中的非线性成分;其中滤波提取采用的impCEEMDAN滤波算法具体步骤如下:

1-1、计算一级余数,公式如下:

其中,w(i)(i=1,...,N)为经过i次的零平均单位方差白噪声,N为零平均总次数,I(i)为原始干涉信号的强度I经过i次零平均噪声相加后的结果,β0为第1级白噪声幅度,E1(·)为由经验模态分解得到的第1级信号,M(·)为对干涉信号的局部均值的运算符,·为求均值的运算符;再通过1级余数r1,得到第1层模式分离信号

1-2、通过递推表达式得到第k层模式分离信号,公式如下:

其中,βk-1为第k层模式分解添加的白噪声幅度,rk为第k层模式分解余数,Ek(·)为由经验模态分解得到的第k级信号;

1-3、对k层模式分离信号进行筛选和提取,筛选函数计算公式如下:

其中,F1为局部偏差函数,F2为整体偏差函数,j为采样点索引,n为采样点数;

对于不同层数的模式如果同时满足F1→min和F2→min,则选择当前的模式为最终分解后的信号;

步骤2、对原始干涉信号进行相位峰探测得到相位峰的干涉阶数mp,公式如下:

其中λ0为中心波长,φ0为相位信息,δ为光程差,Int(·)为取整函数;

步骤3、对滤波后的信号进行相干峰探测,得到相干峰探测的测量结果,再通过反演得到相干峰的干涉阶数,具体过程如下:

利用质心法的原理通过计算干涉信号的质心位置,进而得到测量物体表面的相对高度hc,具体公式如下:

其中,z为重心位置,I为干涉信号的强度,j为采样点索引,Δz为扫描间隔步长;

利用类比相位峰探测法,反演得到相干峰的干涉阶数mc,公式如下:

其中,Int(·)为取整函数;

步骤4、利用间隙分析算法对相干峰和相位峰的干涉阶数进行差值处理,得到微观器件的三维形貌,具体公式如下:

式中,hp为相位峰探测法得到的表面形貌的高度值,h为经过间隙分析后的微观器件表面形貌的最终高度值。

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